分光鏡 ellipsometers M-2000 線路被設計適應薄膜描述特性不同的需要。 一先進的光學設計，寬光譜範圍和快速數據收集做它一個非常強大和多才多藝的工具。
M-2000 提供速度和準確性。 我們的給予專利的 RCE 技術結合轉動的補償器 Ellipsometry 以高速 CCD 檢測從整個光譜 (數百波長) 收集數據在一小部分與大多配置的一秒鐘。
M-2000 正確地是第一 ellipsometer 擅長在一切從原地監控和程序控制對大區均一映射和通用薄膜描述特性。
為什麼 M-2000 ？
- 先進的 Ellipsometer 技術
M-2000 使用我們的給予專利的 RCE (轉動的補償器 ellipsometer) 技術達到高精確度和精確度。 - 快速光譜檢測
RCE 設計是與先進的 CCD 檢測兼容同時評定所有波長。 - 寬光譜範圍
此 ellipsometer 收集 700 個波長從紫外到近紅外 - 同時。 - 靈活的系統綜合化
模件光學設計， M-2000 在可以附有直接地您的處理房間或配置我們的任一個桌面基礎。 - 準確性
先進的設計保證所有範例的準確 ellipsometry 評定。