Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

Profilomètre ST400 Optique de NANOVEA

stades DE X/Y de 150mm et grand un réglage de la hauteur grossier pour faciliter facilement de plus grandes tailles de l'échantillon. Le ST400 a également un appareil-photo optionnel de décalage, avec ou manuel ou motorisé change de plan, pour recenser facilement de petites caractéristiques techniques avant de les mesurer. La Coutume ST400, un plus configuration ouverte, tient compte de l'ajout de plus grands stades DE X/Y pour mesurer encore de plus grandes zones, un stade 360° rotationnel pour mesurer les pièces sphériques ou cylindrique et beaucoup d'autres configurations personnalisées. Travaux bien pour de plus grands échantillons et de plus grandes zones d'échographie. Disponible avec des options variées d'automatisation. Option Idéale pour les divers et en expansion besoins de mesure.

Fonctionnalités Clé :

  • 150mm x 150mm DE X/Y
  • Options Variées
  • Région Spacieuse de Plate-forme pour la Seule Taille de l'Échantillon
  • Reconnaissance des Formes d'Image (de PRVision)

Last Update: 16. July 2013 07:46

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment