Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Asylum Research manufactures advanced Atomic Force/Scanning Probe Microscopy instruments and accessories
Site Sponsors
  • New HD-AFM Mode; Your Path to Controlling Forces for Precise Material Properties
  • NanoTest Vantage a complete nanomechanical and nanotribological test solution
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
Posted in | Profilometers

Optisk Profilometer ST400 från NANOVEA

X-Y 150mm arrangerar, och en stor grov höjdjustering som lätt hyser större, tar prov storleksanpassar. ST400EN har också en valfri offset- kamera, med endera manuellt, eller motorized zoom, lätt för att identifiera lilla särdrag före att mäta dem. Den Beställnings- ST400EN, mer den öppna konfigurationen, låter för tillägget av större X-Y arrangerar för att mäta även större områden, arrangerar en rotations360° för att mäta sfäriska eller cylindriska delar och många andra beställnings- konfigurationer. Arbeten väller fram för större tar prov och större bildläsningsområden. Tillgängligt med olika automationalternativ. Idealalternativ för olika och utvidgande mätningsbehov.

Stämma Särdrag:

  • XY 150mm x 150mm
  • Olika Alternativ
  • Rymligt PlattformOmråde för Unikt Tar Prov Storleksanpassar
  • Avbilda Mönstrar Erkännande, (PRVision)

Last Update: 3. February 2012 16:36

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this equipment listing?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment