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NT-MDT Wandler-FOLGENDES Scannen-Fühler-Mikroskop

Der Wandler Als Nächstes ist der erste, zum eines neuen Konzeptes im universellen Zweck SPM anzubieten. Diese neue Auslegung bietet „die Bordsachkenntnis an“, welche die Methode öffnet, damit alle Benutzerebenen Bilder der Qualität SPM in der kurzen Zeit erwerben.

Die Mühe der manuellen Installation ist beseitigt worden. Intuitive Automatisierung führt Sie durch die Installation, Einstellung und prüft Maße. Die Anlage enthält intelligente Software, automatisierten Hauptaustausch, die motorisierte Probe, die unter Monitorsteuerung des Videos, ergonomische Auslegung zu einem angemessenen Preis in Position bringt -, der macht diese allem ist, SPM-Operation geeignet für sogar einen Anfänger. Erfahrene Benutzer werden erkennen schnell den Nutzen der Auslegung und mit der Folgenden Einfachheit des Wandlers, der Benutzerfreundlichkeit, den hohen Fähigkeiten und der Qualität von Bildern überrascht.

Die Anlage hat die Regelfühler, zum von inhärenten piezoelektrischen Unvollkommenheiten wie Scan-Nichtlinearität, -ausdehnung und -hysterese auszugleichen. Mit zwei Einbauten automatisch austauschbares FLUGHANDBUCH- und STM-Köpfe und zwei zusätzlichen entfernbaren Köpfen für das Bedienen in den flüssigen Umgebungen und im nanoindentation haben Sie jetzt die Freiheit, zum mit einer Vielzahl von Proben, von messenden Modi und von Bedingungen zu arbeiten. Der Wandler Als Nächstes hat einen hoch entwickelten Controller mit Bibliothek von Skripten und VON MAC- OSkompatibilität, damit Vielseitigkeit die vielen Herausforderungen der wissenschaftlichen Forschung annimmt.

Hauptmerkmale:

  • Automatisierter Austausch von FLUGHANDBUCH- und STM-Köpfen
  • Automatisierte Ausrichtung der optischen Feed-backgeometrie (Freitragend-Laserfotodiode)
  • Motorisierte Software getriebene Beispielpositionierung
  • Motorisierter Fokus und lautes Summen der optischen Ansicht
  • Motorisierte Positionierung der optischen Beispielansicht
  • Motorisierte Gehäuseklappe für verbesserte Isolierung
  • Automatisierte Software getriebene Regelung von Maßmodi

Leistungsfähigkeiten:

  • Alle grundlegenden AtomKraft-Mikroskopietechniken - Topographie, Phasendarstellung, Maß von elektrischen Eigenschaften, nanolithography und mehr
  • Scannende Tunnelbau-Mikroskopie
  • Große Auswahl von Betriebsbedingungen für Experimentieren - in einer Luft oder in der Flüssigkeit
  • Liefert kapazitives geschlossenes“ Regelkreisfeedback der Niedrigen „Geräusche in allen drei Richtungen (XYZ) Präzision Nanometrology
  • Atomauflösung

Last Update: 3. February 2012 16:23

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