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Microscopio SEGUENTE della Sonda di Scansione del Risolutore di NT-MDT

Il Risolutore Dopo è il primo per offrire un nuovo concetto nell'uso generale SPM. Questa nuova progettazione offre “la competenza a bordo„ che apre la strada affinchè tutti i livelli di utente acquisti le immagini di qualità SPM in una scarsa quantità di tempo.

La controversia dell'impostazione manuale si è eliminata. L'automazione Intuitiva vi guida con l'impostazione, adeguamento e campiona le misure. Il sistema comprende il software astuto, lo scambio capo automatizzato, campione motorizzato che posiziona sotto il controllo riflesso del video, progettazione ergonomica ad un prezzo ragionevole - tutto questo rende l'operazione di SPM adatta anche a principiante. Gli utenti Con Esperienza riconosceranno rapidamente i vantaggi della progettazione e saranno stupiti con la semplicità Seguente del Risolutore, la facilità di uso, le alte capacità e la qualità delle immagini.

Il sistema ha sensori a circuito chiuso per compensare le imperfezioni piezoelettriche inerenti quali la non linearità, lo strisciamento e l'isteresi di scansione. Con due l'accessorio automaticamente AFM intercambiabile e STM si dirige e due smontabili supplementari si dirigono verso il funzionamento negli ambienti e nanoindentation che liquido ora avete la libertà da lavorare con vari campioni, i modi e circostanze di misurazione. Il Risolutore Dopo ha un regolatore avanzato con la libreria degli script e della compatibilità di MAC OS affinchè la versatilità incontri le molte sfide di ricerca scientifica.

Caratteristiche fondamentali:

  • Scambio Automatizzato di teste di STM e del AFM
  • Allineamento Automatizzato della geometria ottica di feedback (a mensola-laser-fotodiodo)
  • Posizionamento implicante l'ausilio del software Motorizzato del campione
  • Fuoco e zoom Motorizzati della visualizzazione ottica
  • Posizionamento Motorizzato della visualizzazione ottica del campione
  • Porta Motorizzata di sistema di chiusura per isolamento migliore
  • Controllo implicante l'ausilio del software Automatizzato dei modi di misura

Capacità di Prestazione:

  • Tutte Le tecniche Atomiche di base di Microscopia della Forza - topografia, rappresentazione di fase, misura dei beni elettrici, nanolithography e più
  • Microscopia di Scansione di Traforo
  • Vasta gamma delle condizioni di gestione per sperimentazione - in aria o in liquido
  • Il feedback chiuso capacitivo del ciclo “di disturbo Basso„ in tutte e tre le direzioni (XYZ) fornisce la precisione Nanometrology
  • Risoluzione Atomica

Last Update: 3. February 2012 16:25

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