Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D

Микроскоп Зонда Скеннирования Решителя NT-MDT СЛЕДУЮЩИЙ

Решитель Затем первое для того чтобы предложить новое понятие в общем назначении SPM. Эта новая конструкция предлагает «бортовую экспертизу» раскрывая путь для всех уровней пользователя приобрести изображения качества SPM в коротком количестве времени.

Перебранка ручного настроения была исключена. Интуитивная автоматизация направляет вас через настроение, регулировку и пробует измерения. Система включает умное ПО, автоматизированный головной обмен, моторизованный образец располагая под управление видео контролируемое, эргономическую конструкцию на умеренной цене - всей это делает деятельность SPM соответствующей для даже послушника. Опытные пользователи быстро узнают преимущества конструкции и будут изумлены с простотой Решителя Следующей, легкием в использовании, высокими возможностями и качеством изображений.

Система имеет датчики короткозамкнутого витка к возмещала потерю своиственные пьезоэлектрические несовершенства как нелинейность, ползучесть и гистерезис развертки. С 2 разъемом автоматически заменимых головки AFM и STM, и 2 дополнительных съемных головки для работать в жидкостных окружающих средах и nanoindentation вы теперь имеете свободу, котор нужно работать с разнообразие образцами, измеряя режимами и условиями. Решитель Затем имеет предварительный регулятор с архивом сценариев и совместимости MAC OS для многосторонности для того чтобы соотвествовать много научного исследования.

Главные особенности:

  • Автоматизированный обмен головок AFM и STM
  • Автоматизированное выравнивание оптически геометрии обратной связи (консольн-лазер-фотодиода)
  • Моторизованный управляемый ПО располагать образца
  • Моторизованные фокус и сигнал оптически взгляда
  • Моторизованный располагать оптически взгляда образца
  • Моторизованная дверь приложения для улучшенной изоляции
  • Автоматизированное управление управляемое ПО режимов измерения

Возможности Представления:

  • Все основные Атомные методы Микроскопии Усилия - топография, воображение участка, измерение электрических свойств, nanolithography и больше
  • Просматривая Микроскопия Прокладывать Тоннель
  • Широкий диапазон условий operating для экспериментации - в воздухе или жидкости
  • Обратная связь петли Низкого «шума емкостная закрытая» в всех 3 направлениях (XYZ) обеспечивает точность Nanometrology
  • Атомное разрешение

Last Update: 3. February 2012 16:33

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment