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Silicium-SPM-Sondes d'Extrémité de Plateau de NANOSENSORS

La suite d'Extrémité de Plateau basée sur les Silicium-SPM-Sondes bien établies de NANOSENSORS™ montre une extrémité intentionnellement épointée avec une fin-face circulaire bien définie située à l'extrémité libre d'un encorbellement micromécanique. Ce plateau est constitué par le faisceau d'ions orienté fraisant hors d'une extrémité symétriquement corrodée établissant une tige sur une extrémité conique.

Les extrémités de plateau sont disponibles sur des constantes en porte-à-faux variées de force de couverture des géométries s'échelonnant de 0,2 N/m à 48 N/m et de fréquences de résonance de 13 kilohertz à 330 kilohertz. Le diamètre de la face de plateau peut être réglé entre le µm 1,8 le µm (type standard) et 10 (type personnalisé).

Caractéristiques techniques de Sonde d'un coup d'oeil

  • Forme Bien Définie de plateau
  • Type standard fourni par le stock
  • Option Personnalisée de forme
  • Silicium Mono-cristallin
  • Chimiquement inerte
  • Q-Facteur mécanique Élevé pour la sensibilité élevée

Last Update: 3. February 2012 16:22

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