Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

De silicium-spm-Sondes van het Uiteinde van het Plateau van NANOSENSORS

De reeksen van het Uiteinde van het Plateau die op de reeds lang gevestigde silicium-SPM-Sondes NANOSENSORS™ worden gebaseerd stellen een opzettelijk bot uiteinde met een duidelijk omlijnd cirkel eind-gezicht tentoon dat op het vrije eind van een micromechanical cantilever wordt gevestigd. Dit plateau wordt gevormd door geconcentreerd ionenstraalmalen uit een symmetrisch geëtst uiteinde bouwend een staaf bovenop een kegeluiteinde.

De plateauuiteinden zijn beschikbaar op diverse cantilevermeetkunde die krachtconstanten behandelen die zich van 0.2 N/m aan 48 N/m en resonantiefrequenties uitstrekken van kHz 13 aan kHz 330. De diameter van het plateaugezicht kan tussen 1.8 µm (standaard) en 10 µm (aangepast type) worden aangepast.

De Eigenschappen van de Sonde bij een Blik

  • Duidelijk omlijnde plateauvorm
  • Standaard beschikbaar bij voorraad
  • Aangepaste vormoptie
  • Enig kristallijn silicium
  • Chemisch inert
  • Hoge mechanische q-Factor voor hoge gevoeligheid

Last Update: 3. February 2012 16:20

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this equipment listing?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment