Microscopio de la Antena de la Exploración de NT-MDT NTEGRA Prima

NTEGRA Prima es un dispositivo multifuncional para realizar las tareas más típicas en el campo de la Microscopia de la Antena de la Exploración.

El dispositivo es capaz de realizar más de 40 métodos de medida, qué permite el analizar de las propiedades físicas y químicas de la superficie con la alta precisión y la resolución. Es posible realizar experimentos en aire, así como en líquidos y en el ambiente controlado. La electrónica de la nueva generación proporciona a operaciones en (hasta 5MHz) modos de alta frecuencia. Esta característica aparece ser principal para el trabajo con modos de alta frecuencia y usar del AFM cantilevers.* de alta frecuencia

Hay varios tipos de la exploración ejecutados en NTEGRA Prima: explorando por la muestra, explorando por la antena y la doble-exploración. Debido a ese, el sistema es ideal para investigar pequeñas muestras con la resolución ultraalta (nivel atómico-molecular) así como para el rango grande de las muestras y de la exploración hasta el µm 100x100x10. El modo único de DualScan TM permite el investigar incluso de campos más grandes en la superficie (µm 200x200 para X, Y y el µm 22 para Z) que pueden ser útiles, por ejemplo, para las células vivas y los componentes de MEMS.

El Accesorio tres sensores del mando de bucle cerrado de las hachas rastrea la dislocación real del analizador y compensa imperfecciones inevitables del piezoceramics como ausencia de linealidad, deslizamiento e histéresis. Los sensores, que son utilizados por NT-MDT, tienen el nivel más de poco ruido, así permitiendo el trabajo con mando de bucle cerrado en los campos muy pequeños (hacia abajo a 10x10 nanómetro). Esto es especialmente valioso para los modos de realización del nanomanipulation y de la litografía.

NTEGRA Prima tiene un sistema óptico incorporado con 1 resolución del µm, que no prohibe a proyección de imagen el proceso de la exploración en tiempo real.

Características Dominantes:

  • mando de bucle cerrado con el nivel más de poco ruido (puede ser utilizado para explorar campos de <100 nm="">
  • microscopio óptico con la resolución del 1µm
  • explorando por la muestra (el nivel más de poco ruido, la mejor resolución en los pequeños campos), explorando por la antena (rango máximo de la exploración, funcionamiento con las muestras grandes)
  • más de 40 modos de medición, incluyendo los únicos
  • realizando experimentos en aire, en líquidos, en el ambiente controlado
  • posibilidad de desplegar funciones

* E.g el método único de Microscopia Acústica de la Atómico-Fuerza (AFAM) permite el investigar de muestras suaves y duras con mediciones cuantitativas de realización del módulo Joven en cada punta de exploración. AFAM permite el obtener mucho mejor de contraste con respecto al Modo de la Proyección De Imagen de la Fase para los objetos suaves, y hace posible la adquisición de contraste en las muestras duras, cuál es una tarea muy dura cuando una utiliza otros métodos.

Last Update: 3. February 2012 16:35

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