Microscope de Sonde de Lecture de NT-MDT NTEGRA Prima

NTEGRA Prima est un dispositif multifonction pour effectuer les tâches les plus typiques dans le domaine de la Microscopie de Sonde de Lecture.

Le dispositif est capable d'exécuter plus de 40 méthodes de mesure, ce qui laisse analyser les propriétés matérielles et chimiques de la surface avec la haute précision et la définition. Il est possible d'effectuer des expériences en air, ainsi que dans les liquides et dans l'environnement contrôlé. L'électronique de rétablissement neuf fournit des fonctionnements en (jusqu'à 5MHz) modes à haute fréquence. Cette caractéristique technique semble être principale pour le travail avec des modes à haute fréquence d'AFM et la haute fréquence cantilevers.* d'utilisation

Il y a plusieurs types de lecture mis en application dans NTEGRA Prima : balayant par l'échantillon, balayant par la sonde et la double-lecture. À cause du ce, le système est idéal pour vérifier de petits échantillons avec la définition ultra-haute (niveau atomique-moléculaire) ainsi que pour le grand domaine témoins et de balayage jusqu'au µm 100x100x10. Le seul mode de DualScan TM laisse vérifier encore de plus grandes zones sur la surface (µm 200x200 pour X, Y et µm 22 pour Z) qui peuvent être utiles, par exemple, pour les cellules vivantes et les composants de MEMS.

Les senseurs de contrôle de boucle bloquée de haches de la Fonction Intégrée trois tracent le déplacement réel du balayeur et compensent des imperfections inévitables de piezoceramics comme non-linéarité, fluage et hystérésis. Les senseurs, qui sont employés par NT-MDT, ont le niveau le plus à faible bruit, de ce fait permettant fonctionner avec le contrôle de boucle bloquée sur les petites zones mêmes (vers le bas à 10x10 nanomètre). C'est particulièrement précieux pour des modes de mise en oeuvre de nanomanipulation et de lithographie.

NTEGRA Prima a un système optique intrinsèque avec 1 définition de µm, qui permet à représentation le procédé de lecture en temps réel.

Fonctionnalités clé :

  • contrôle de boucle bloquée avec le niveau le plus à faible bruit (peut être utilisé pour balayer des zones de <100 nm="">
  • microscope optique avec la définition de 1µm
  • balayant par l'échantillon (le niveau le plus à faible bruit, la meilleure résolution concernant les zones de petit), balayant par la sonde (domaine maximum de lecture, fonctionnement avec de grands échantillons)
  • plus de 40 modes de mesure, y compris les seuls
  • effectuant des expériences en air, dans les liquides, dans l'environnement contrôlé
  • possibilité d'augmenter la fonctionnalité

* Par Exemple la seule méthode de Microscopie Acoustique d'Atomique-Force (AFAM) laisse vérifier les échantillons mous et durs avec des mesures quantitatives de mise en oeuvre de Jeune module à chaque remarque de balayage. AFAM laisse obtenir bien mieux le contraste par rapport au Mode de Représentation de Phase pour les objectifs mous, et rend l'acquisition possible du contraste sur les échantillons durs, ce qui est une tâche très dure quand on utilise d'autres méthodes.

Last Update: 3. February 2012 16:22

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