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Microscopio della Sonda di Scansione di NT-MDT NTEGRA Prima

NTEGRA Prima è un'unità multifunzionale per l'esecuzione delle mansioni più tipiche nel campo di Microscopia della Sonda di Scansione.

L'unità è capace dell'esecuzione dei più di 40 metodi di misurazione, che cosa concede analizzare i beni fisici e chimici della superficie con alta precisione e risoluzione. È possibile effettuare gli esperimenti in aria come pure in liquidi e nell'ambiente controllato. L'elettronica della nuova generazione fornisce le operazioni (fino a 5MHz) nei modi ad alta frequenza. Questa funzionalità sembra essere principale per il lavoro con i modi ad alta frequenza ed usando del AFM cantilevers.* ad alta frequenza

Ci sono parecchi tipi di scansione applicati in NTEGRA Prima: scandendo dal campione, scandendo tramite la sonda e lo doppio-scansione. A causa del quel, il sistema è ideale per lo studio dei campioni piccoli con risoluzione ultraelevata (livello atomico-molecolare) come pure per il grande intervallo di scansione e dei campioni fino a µm 100x100x10. Il modo unico di DualScan TM concede studiare ancora i più grandi campi sulla superficie (µm 200x200 per la X, Y e µm 22 per Z) che possono essere utili, per esempio, per le celle viventi e le componenti di MEMS.

L'Accessorio tre sensori di controllo di ciclo chiuso delle asce rintraccia lo spostamento reale dello scanner e compensa le imperfezioni inevitabili del piezoceramics come la non linearità, lo strisciamento ed isteresi. I sensori, che sono usati da NT-MDT, hanno il livello più a basso rumore, così permettendo il lavoro con il controllo di ciclo chiuso sui campi molto piccoli (giù a 10x10 nanometro). Ciò è particolarmente apprezzata per i modi d'avanzamento della litografia e di nanomanipulation.

NTEGRA Prima ha un sistema ottico incorporato con 1 risoluzione del µm, che concede alla rappresentazione il trattamento di scansione in tempo reale.

Caratteristiche fondamentali:

  • controllo di ciclo chiuso con il livello più a basso rumore (può essere usato per la scansione dei campi di <100 nm="">
  • microscopio ottico con la risoluzione di 1µm
  • scandendo dal campione (il livello più a basso rumore, la migliore risoluzione sui piccoli campi), scandente dalla sonda (intervallo massimo di scansione, funzionamento con i grandi campioni)
  • più di 40 modi di misurazione, compreso quei unici
  • effettuando gli esperimenti in aria, in liquidi, nell'ambiente controllato
  • possibilità di ampliamento della funzionalità

* Per Esempio il metodo unico di Microscopia Acustica della Atomico-Forza (AFAM) concede studiare i campioni molli e duri con le misure quantitative d'avanzamento di Giovane modulo in ogni punto di scansione. AFAM concede ottenere molto meglio il contrasto rispetto al Modo della Rappresentazione di Fase per gli oggetti molli e rende possibile l'ottenimento di contrasto sui campioni duri, che cosa è un compito molto duro quando uno usa altri metodi.

Last Update: 3. February 2012 16:25

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