NT-MDT NTEGRA Prima のスキャンのプローブの顕微鏡

NT-MDT NTEGRA Prima のスキャンのプローブの顕微鏡

NTEGRA Prima はスキャンのプローブの顕微鏡検査のフィールドで最も典型的なタスクを行うための多機能装置です。

装置は高精度および解像度の表面の物理的な、化学特性を分析することを割り当てる何が、 40 以上の測定方法を行うことができます。 空気、また液体および制御環境の実験を遂行することは可能です。 新しい世代の電子工学は高周波 (5MHz まで) モードの操作を提供します。 この機能は高周波 AFM のモードおよび高周波 cantilevers.* を使用することを使用のために主ようです

NTEGRA Prima で実行される複数のスキャンのタイプがあります: サンプルによってスキャンし、プローブおよび二重スキャンによってスキャンします。 そののために、システムは 100x100x10 µm まで超高度の解像度 (原子分子レベル) の小さいサンプルを調査するために、また大きいサンプルおよびスキャンの範囲にとって理想的です。 DualScan 一義的な TM のモードは Z) 表面 (生体細胞および MEMS のコンポーネントのために有用、例えば、である場合もある X、 Y および 22 µm のための 200x200 µm のためののより大きいフィールドを調査することを割り当てます。

組み込み 3 の斧の閉じたループ制御センサーはスキャンナーの実質の変位をトレースし、非直線性、クリープおよびヒステリシスとして piezoceramics の不可避の欠陥を償います。 従って NT-MDT によって使用されるセンサーは低雑音のレベルを備えていて、非常に小さいフィールドの閉じたループ制御を使用を許可します (10x10 nm に)。 これは遂行の nanomanipulation および石版印刷のモードのために特に貴重です。

NTEGRA Prima にイメージ投射にリアルタイムのスキャンプロセスを与える 1 つの µm の解像度の組み込みの光学系があります。

主要特点:

  • 低雑音のレベルとの閉じたループ制御 (<100 nm のフィールドのスキャンに使用することができます)
  • 1µm の解像度の光学顕微鏡
  • プローブ (最大スキャンの範囲、大きいサンプルとの働き) によってスキャンするサンプル (低雑音のレベル、小さいフィールドの最もよい解像度) によってスキャンします
  • 一義的な物を含む 40 以上の測定のモード、
  • 空気の実験を、制御環境の液体で、遂行します
  • 機能性を拡大する可能性

* 原子力の音響の顕微鏡検査の例えば一義的な方法は (AFAM)あらゆるスキャンポイントの若い係数の遂行の量的な測定を用いる柔らかく、堅いサンプルを調査することを割り当てます。 AFAM は 1 つが他の方法を使用するとき非常に骨の折れる仕事はである何、柔らかい目的のための段階イメージ投射モードと比べて対照を大いによりよく得ることを割り当て対照の堅いサンプルで obtainment を可能にします。

Last Update: 22. December 2014 12:25

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