De Microscoop van de Sonde van het Aftasten NT-MDT NTEGRA Prima

NTEGRA Prima is een multifunctioneel apparaat om de meest typische taken uit te voeren op het gebied van het Aftasten van de Microscopie van de Sonde.

Het apparaat kan meer dan 40 meetmethodes uitvoeren, wat toestaat analyserend fysieke en chemische eigenschappen van de oppervlakte met hoge precisie en resolutie. Het is mogelijk om experimenten in lucht, evenals in vloeistoffen en in gecontroleerd milieu uit te voeren. De nieuwe generatieelektronika verstrekt verrichtingen op (tot 5MHz) wijzen met hoge frekwentie. Deze eigenschap schijnt belangrijkste voor het werk te zijn met wijzen AFM met hoge frekwentie en het gebruiken van cantilevers.* met hoge frekwentie

Er zijn verscheidene aftastentypes die in NTEGRA Prima worden uitgevoerd: het aftasten door de steekproef, het aftasten door de sonde en dubbel-aftast. Wegens dat, is het systeem ideaal voor het onderzoeken kleine steekproeven met ultrahoge resolutie (atoom-moleculair niveau) evenals voor grote steekproeven en aftastende waaier tot 100x100x10 µm. De unieke wijze van DualScan TM staat toe onderzoekend nog grotere gebieden op de oppervlakte (200x200 µm voor X, Y en 22 µm voor Z) die, bijvoorbeeld, voor levende cellen en componenten nuttig kan zijn MEMS.

De Ingebouwde drie assen sloten de sensoren van de lijncontrole vinden de echte verplaatsing van de scanner en compenseren onvermijdelijke onvolmaaktheden van piezoceramics als niet lineair zijn, kruipen en hysterese. De sensoren, die door NT-MDT worden gebruikt, hebben het laagste geluidsniveau, waarbij het werken met gesloten lijncontrole aan de zeer kleine gebieden (onderaan aan 10x10 NM) wordt toegestaan. Dit is vooral waardevol voor het uitvoeren van nanomanipulation en lithografiewijzen.

NTEGRA Prima heeft een ingebouwd optisch systeem met 1 µm- resolutie, die weergave het aftastenproces in real time toestaat.

Zeer Belangrijke eigenschappen:

  • gesloten lijncontrole met het laagste geluidsniveau (kan voor aftastengebieden van worden gebruikt <100 nm="">
  • optische microscoop met de resolutie van 1µm
  • aftastend door steekproef (het laagste geluidsniveau, de beste resolutie over de kleine gebieden die), door sonde aftasten (maximumaftastenwaaier, die met grote steekproeven werkt)
  • meer dan 40 die wijzen, met inbegrip van unieke degenen meten
  • uitvoerend experimenten in lucht, in vloeistoffen, in gecontroleerd milieu
  • mogelijkheid om functionaliteit uit te breiden

* B.v. staat toe de unieke methode van de Akoestische Microscopie (AFAM) van de atoom-Kracht onderzoekend zachte en harde steekproeven met het uitvoeren van kwantitatieve metingen van Jonge modulus in elk aftastenpunt. AFAM staat verkrijgend veel beter contrast in vergelijking tot de Wijze van de Weergave van de Fase voor de zachte voorwerpen toe, en maakt de verworvenheid van contrast op de harde steekproeven mogelijk, wat een zeer harde taak is wanneer men andere methodes gebruikt.

Last Update: 3. February 2012 16:20

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment