Microscópio da Ponta De Prova da Exploração de NT-MDT NTEGRA Prima

Microscópio da Ponta De Prova da Exploração de NT-MDT NTEGRA Prima

NTEGRA Prima é um dispositivo multifuncional para executar as tarefas as mais típicas no campo da Microscopia da Ponta De Prova da Exploração.

O dispositivo é capaz de executar mais de 40 métodos de medição, o que reserva analisar propriedades físicas e químicas da superfície com elevada precisão e definição. É possível realizar experiências no ar, assim como nos líquidos e em ambiente controlado. A eletrônica da nova geração fornece operações (até 5MHz) em modos de alta freqüência. Esta característica parece ser principal para o trabalho com modos de alta freqüência e utilização do AFM de cantilevers.* de alta freqüência

Há diversos tipos da exploração executados em NTEGRA Prima: fazendo a varredura pela amostra, fazendo a varredura pela ponta de prova e pela duplo-exploração. Por causa do esse, o sistema é ideal para investigar amostras pequenas com definição ultra-alta (nível atômico-molecular) assim como para a escala grande das amostras e da varredura até o µm 100x100x10. O modo original de DualScan TM reserva investigar mesmo uns campos mais grandes na superfície (µm 200x200 para X, Y e µm 22 para Z) que podem ser úteis, por exemplo, para pilhas vivas e componentes de MEMS.

O Acessório três sensores do controle de laço fechado dos machados segue o deslocamento real do varredor e compensa imperfeições inevitáveis do piezoceramics como não-linearidades, rastejamento e histerese. Os sensores, que são usados por NT-MDT, têm o mais baixo nível de ruído, assim permitindo o trabalho com controle de laço fechado nos campos muito pequenos (para baixo a 10x10 nanômetro). Isto é especialmente valioso para modos de execução do nanomanipulation e da litografia.

NTEGRA Prima tem um sistema óptico incorporado com 1 definição do µm, que permite a imagem lactente o processo da exploração no tempo real.

Características Chaves:

  • controle de laço fechado com o mais baixo nível de ruído (pode ser usado fazendo a varredura de campos de <100 nanômetro)
  • microscópio óptico com a definição de 1µm
  • fazendo a varredura pela amostra (o mais baixo nível de ruído, a melhor definição nos campos pequenos), fazendo a varredura pela ponta de prova (escala máxima da exploração, funcionamento com grandes amostras)
  • mais de 40 modos de medição, incluindo o originais
  • realizando experiências no ar, nos líquidos, em ambiente controlado
  • possibilidade de expandir a funcionalidade

* Por Exemplo o método original da Microscopia Acústica da Atômico-Força (AFAM) reserva investigar amostras macias e duras com medidas quantitativas de execução do módulo Novo em cada ponto de varredura. AFAM reserva obter muito melhor o contraste em relação ao Modo da Imagem Lactente da Fase para os objetos macios, e faz possível o acesso do contraste nas amostras duras, o que é uma tarefa muito dura quando uma usa outros métodos.

Last Update: 22. December 2014 12:26

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