Микроскоп Зонда Скеннирования NT-MDT NTEGRA Prima

Микроскоп Зонда Скеннирования NT-MDT NTEGRA Prima

NTEGRA Prima многофункциональный прибор для выполнять самые типичные задачи в поле Микроскопии Зонда Скеннирования.

Прибор способен выполнять больше чем 40 измеряя методов, что позволяет проанализировать медицинский осмотр и химические свойства поверхности с высокой точностью и разрешением. Возможно унести эксперименты в воздухе, так же, как в жидкостях и в регулируемой окружающей среде. Электроника нового поколения предусматривает деятельности в высокочастотных (до 5MHz) режимах. Кажется, что будет Эта характеристика главным образом для работы с высокочастотными режимами и использованием AFM высокочастотного cantilevers.*

Несколько типов скеннирования снабженных в NTEGRA Prima: просматривающ образцом, просматривающ зондом и двойн-скеннированием. Из-за того, система идеально для расследовать малые образцы с ультравысоким разрешением (атомн-молекулярным уровнем) так же, как для большого ряда образцов и просматривать до µm 100x100x10. Уникально режим DualScan TM позволяет расследовать даже более большие поля на поверхности (µm 200x200 для X, Y и µm 22 для Z) которая может быть полезна, например, для живущих клеток и компонентов MEMS.

Датчики управлением короткозамкнутого витка осей Разъема 3 трассируют реальное смещение блока развертки и компенсируют неизбежные несовершенства piezoceramics как нелинейность, ползучесть и гистерезис. Датчики, которые использованы NT-MDT, имеют самый малошумный уровень, таким образом позволяющ работе с управлением короткозамкнутого витка на очень малых полях (вниз к 10x10 nm). Это специально ценно для унося режимов nanomanipulation и литографирования.

NTEGRA Prima имеет встроенную оптическую систему с 1 разрешением µm, которое позволяет воображению процессу скеннирования в реальное временя.

Главные особенности:

  • управление короткозамкнутого витка с самым малошумным уровнем (смогите быть использовано для полей развертки <100 nm)
  • оптически микроскоп с разрешением 1µm
  • просматривающ образцом (самым малошумным уровнем, самым лучшим разрешением на малых полях), просматривая зондом (максимальным рядом скеннирования, деятельностью с большими образцами)
  • больше чем 40 измеряя режимов, включая уникально одни
  • эксперименты по приведения в исполнение в воздухе, в жидкостях, в регулируемой окружающей среде
  • возможность расширять функциональность

* Например уникально метод Микроскопии Атомн-Усилия Акустической (AFAM) позволяет расследовать мягкие и трудные образцы с унося количественными измерениями Молодого модуля в каждом просматривая пункте. AFAM позволяет получить очень более лучше контраст по сравнению с Режимом Воображения Участка для мягких предметов, и делает возможным obtainment контраста на трудных образцах, что очень тяжелая задача когда одно использует другие методы.

Last Update: 22. December 2014 12:26

Other Equipment by this Supplier