Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam

Микроскоп Зонда Скеннирования NT-MDT NTEGRA Prima

NTEGRA Prima многофункциональный прибор для выполнять самые типичные задачи в поле Микроскопии Зонда Скеннирования.

Прибор способен выполнять больше чем 40 измеряя методов, что позволяет проанализировать медицинский осмотр и химические свойства поверхности с высокой точностью и разрешением. Возможно унести эксперименты в воздухе, так же, как в жидкостях и в регулируемой окружающей среде. Электроника нового поколения предусматривает деятельности в высокочастотных (до 5MHz) режимах. Кажется, что будет Эта характеристика главным образом для работы с высокочастотными режимами и использованием AFM высокочастотного cantilevers.*

Несколько типов скеннирования снабженных в NTEGRA Prima: просматривающ образцом, просматривающ зондом и двойн-скеннированием. Из-за того, система идеально для расследовать малые образцы с ультравысоким разрешением (атомн-молекулярным уровнем) так же, как для большого ряда образцов и просматривать до µm 100x100x10. Уникально режим DualScan TM позволяет расследовать даже более большие поля на поверхности (µm 200x200 для X, Y и µm 22 для Z) которая может быть полезна, например, для живущих клеток и компонентов MEMS.

Датчики управлением короткозамкнутого витка осей Разъема 3 трассируют реальное смещение блока развертки и компенсируют неизбежные несовершенства piezoceramics как нелинейность, ползучесть и гистерезис. Датчики, которые использованы NT-MDT, имеют самый малошумный уровень, таким образом позволяющ работе с управлением короткозамкнутого витка на очень малых полях (вниз к 10x10 nm). Это специально ценно для унося режимов nanomanipulation и литографирования.

NTEGRA Prima имеет встроенную оптическую систему с 1 разрешением µm, которое позволяет воображению процессу скеннирования в реальное временя.

Главные особенности:

  • управление короткозамкнутого витка с самым малошумным уровнем (смогите быть использовано для полей развертки <100 nm="">
  • оптически микроскоп с разрешением 1µm
  • просматривающ образцом (самым малошумным уровнем, самым лучшим разрешением на малых полях), просматривая зондом (максимальным рядом скеннирования, деятельностью с большими образцами)
  • больше чем 40 измеряя режимов, включая уникально одни
  • эксперименты по приведения в исполнение в воздухе, в жидкостях, в регулируемой окружающей среде
  • возможность расширять функциональность

* Например уникально метод Микроскопии Атомн-Усилия Акустической (AFAM) позволяет расследовать мягкие и трудные образцы с унося количественными измерениями Молодого модуля в каждом просматривая пункте. AFAM позволяет получить очень более лучше контраст по сравнению с Режимом Воображения Участка для мягких предметов, и делает возможным obtainment контраста на трудных образцах, что очень тяжелая задача когда одно использует другие методы.

Last Update: 3. February 2012 16:33

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment