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NT-MDT NTEGRA Prima 扫描探测显微镜

NTEGRA Prima 是执行的最典型的任务一个多功能设备在扫描探测显微学领域。

设备能够执行超过 40 个测量方法,什么准许分析表面的实际和化工属性与高精度和解决方法的。 执行实验在航空,以及在液体和在受控环境里是可能的。 新一代电子在高频率 (至 5MHz) 模式下提供运算。 此功能看来是首席的为与高频率 AFM 模式和使用高频率 cantilevers.* 一起使用

有在 NTEGRA 实施的几个扫描类型 Prima : 浏览由范例,浏览由探测和双重扫描。 由于该,这个系统是理想的对调查与超离频的解决方法 (基本分子级别) 的小的范例以及对大范例和浏览范围至 100x100x10 µm。 唯一 DualScan TM 模式准许调查在表面 (200x200 的更大的域可以是有用的,例如,为活细胞和 MEMS 要素的 X、 Y 和 22 µm 的 µm 为 Z)。

内建三轴闭合电路控制传感器跟踪扫描程序的实际位移并且补偿 piezoceramics 的不可避免的缺点作为非线形性、蠕动和迟滞现象。 传感器, NT-MDT 使用,有这个最低噪声的级别,因而允许与在非常小的域的闭合电路控制一起使用 (下来对 10x10 nm)。 这为执行的 nanomanipulation 和石版印刷模式是特别重要的。

NTEGRA Prima 有与 1 个 µm 解决方法的一个固定光学系统,在实时提供想象扫描进程。

关键功能:

  • 与最低噪声的级别的闭合电路控制 (能为浏览域使用 <100 nm="">
  • 有解决方法的光学显微镜 1µm
  • 浏览由范例 (最低噪声的级别,最佳的解决方法对小的域),浏览由探测 (最大扫描范围,工作与大范例)
  • 超过 40 个评定的模式,包括唯一那些
  • 执行在航空的实验,在液体,在受控环境里
  • 扩展功能的可能性

* 即基本强制音响显微学唯一方法 (AFAM)准许调查与新模数的执行的定量评定的软和困难范例在每浏览的点的。 与阶段软的对象的,想象模式比较 AFAM 准许好获得对比,并且使这次获得成为可能对比在困难范例,什么是非常艰巨的任务,当一个使用其他方法时。

Last Update: 3. February 2012 16:17

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