Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam

NT-MDT NTEGRA Prima 掃描探測顯微鏡

NTEGRA Prima 是執行的最典型的任務一個多功能設備在掃描探測顯微學領域。

設備能够執行超過 40 個測量方法,什麼准許分析表面的實際和化工屬性與高精度和解決方法的。 執行實驗在航空,以及在液體和在受控環境裡是可能的。 新一代電子在高頻率 (至 5MHz) 模式下提供運算。 此功能看來是首席的為與高頻率 AFM 模式和使用高頻率 cantilevers.* 一起使用

有在 NTEGRA 實施的幾個掃描類型 Prima : 瀏覽由範例,瀏覽由探測和雙重掃描。 由於該,這個系統是理想的對調查與超離頻的解決方法 (基本分子級別) 的小的範例以及對大範例和瀏覽範圍至 100x100x10 µm。 唯一 DualScan TM 模式准許調查在表面 (200x200 的更大的域可以是有用的,例如,為活細胞和 MEMS 要素的 X、 Y 和 22 µm 的 µm 為 Z)。

內建三軸閉合電路控制傳感器跟蹤掃描程序的實際位移并且補償 piezoceramics 的不可避免的缺點作為非線形性、蠕動和遲滯現象。 傳感器, NT-MDT 使用,有這個最低噪聲的級別,因而允許與在非常小的域的閉合電路控制一起使用 (下來對 10x10 nm)。 這為執行的 nanomanipulation 和石版印刷模式是特別重要的。

NTEGRA Prima 有與 1 個 µm 解決方法的一個固定光學系統,在實時提供想像掃描進程。

關鍵功能:

  • 與最低噪聲的級別的閉合電路控制 (能為瀏覽域使用 <100 nm="">
  • 有解決方法的光學顯微鏡 1µm
  • 瀏覽由範例 (最低噪聲的級別,最佳的解決方法對小的域),瀏覽由探測 (最大掃描範圍,工作與大範例)
  • 超過 40 個評定的模式,包括唯一那些
  • 執行在航空的實驗,在液體,在受控環境裡
  • 擴展功能的可能性

* 即基本強制音響顯微學唯一方法 (AFAM)准許調查與新模數的執行的定量評定的軟和困難範例在每瀏覽的點的。 與階段軟的對象的,想像模式比較 AFAM 准許好獲得對比,并且使這次獲得成為可能對比在困難範例,什麼是非常艱鉅的任務,當一个使用其他方法時。

Last Update: 3. February 2012 16:18

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment