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Microscopio Atómico de la Fuerza de AIST-NT SmartSPM 1000

El 100% automatizó el sistema de SmartSPM que ofrece su tecnología punta de las mediciones ultrarrápidas, metrológicas y de alta resolución para la investigación de los materiales más avanzados en la escala nana en todos los modos del AFM y de STM.

Automatización

Con el SmartSPM la alineación automatizada de la laser-a-punta del tecleo-en-uno-botón fija a investigadores libres de este funcionamiento general. Esta característica también proporciona a de alto nivel de la reproductibilidad del ajuste del sistema que no depende de la experiencia del operador. ¡Pero éste es apenas el principio de todo el accesorio de la automatización en el SmartSPM!

En el modo automático el operador debe especificar solamente los parámetros principales de la antena y el área requerida de la exploración para permitir el SmartSPM realizar el ajuste completo del sistema, dedicar la antena con la superficie de la muestra y comenzar a explorar. El período de aprendizaje mínimo así como el comienzo muy rápido de las mediciones (menos de 5 minutos!) hace el SmartSPM una solución perfecta para cualquier recurso multiusos.

Pruebe su voladizo antes de mediciones corrientes

Solamente con el SmartSPM se llega a ser posible probar la capa reflexiva de la parte trasera del voladizo antes de comenzar cualesquiera mediciones correlacionando la distribución de la amplitud de la oscilación del voladizo. Además, después de que se haga la correspondencia, el operador puede elegir manualmente la posición más apropiada de la mancha de laser respecto al voladizo basado en sus requisitos específicos de la medición.

Encuentre Rápidamente el lugar correcto en su muestra

La combinación de la muestra motorizada que coloca en el avión horizontal y la óptica de alta resolución de la parte-vista permite que los investigadores encuentren fácilmente la superficie donde está ser hecho la exploración posterior. Esta combinación también es movida por motor por asir video calibrado del software, así que el utilizador puede determinar ubicaciones interesantes en la superficie de la muestra y mover el voladizo allí haciendo clic en la imagen de vídeo en la pantalla de ordenador. Durante este proceso hay luces no irritantes del centelleo. La imagen óptica sigue siendo absolutamente sin obstrucción, porque el laser del AFM es 1300 nanómetro IR.

Rompa los límites del software

Para los usuarios experimentados ambo el lenguaje scripting embutido (Lua) y el macro-lenguaje programado de DSP están disponibles. Permiten que el utilizador personalice y automatice fácilmente su experiencia de SPM extendiendo el software de SmartSPM con extensiones del programa de encargo en las categorías tales como la exploración, curvas de la fuerza, nanolithography, la alta investigación de la producción (HTS) y más.

Resolución. Estabilidad. Exactitud

Debido a la combinación del sistema de inscripción de poco ruido, del analizador único, de la electrónica avanzada y de los procedimientos elegantes de la exploración que incorporan durante 100 años de experiencia combinada de la investigación de SPM, con los utilizadores de SmartSPM de AIST-NT puede realizar las mediciones únicas que son extremadamente difíciles, si es posible en absoluto, para otros instrumentos de SPM.

El extra-seguros y al mismo tiempo ayunan procedimiento del combate de la punta-muestra permiten proteger incluso puntas frágiles muy sostenidas contra cualquier daño posible. Debido a la disponibilidad del modo de exploración sin contacto verdadero uno puede medir incluso las muestras más delicadas y mecánicamente más sensibles. Los procedimientos elegantes únicos de la exploración permiten que el utilizador obtenga las imágenes de alta calidad en objetos muy desafiadores como 120 nanoparticles nanómetro AG, DNA o estructuras laminares del polímero.

Debido a la construcción muy bien diseñada y calculada del AFM y del analizador, solamente el instrumento de AIST-NT ofrece tal estabilidad mecánica excepcional, que permite que el utilizador consiga imágenes atómicas de la resolución con el mismo analizador de 100 micrones y al mismo tiempo a las imágenes de alta calidad de la producción sin ningunos vectores del aislamiento de vibración. Esto es de importancia extrema para la integración del AFM con los recursos ópticos encima de un vector óptico.

Last Update: 3. February 2012 16:35

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