Microscópio Atômico da Força de AIST-NT SmartSPM 1000

Microscópio Atômico da Força de AIST-NT SmartSPM 1000
O 100% automatizou o sistema de SmartSPM que oferece sua tecnologia pioneiro de medidas ultra-rápidos, metrological e de alta resolução para a pesquisa dos materiais os mais avançados na escala nano em todos os modos do AFM e do STM.

Automatização

Com o SmartSPM o alinhamento automatizado da laser-à-ponta do clique-em-um-botão ajusta pesquisadores livres desta operação rotineira. Esta característica igualmente fornece um nível elevado de reprodutibilidade do ajuste do sistema que não depende da experiência do operador. Mas este é apenas o começo de todo o acessório da automatização no SmartSPM!

No modo automático o operador deve somente especificar os parâmetros principais da ponta de prova e a área exigida da varredura para deixar o SmartSPM executar o ajuste completo do sistema, contratar a ponta de prova com a superfície da amostra e começá-la fazer a varredura. O período de aprendizagem mínimo assim como o início rápido mesmo das medidas (menos de 5 minutos!) fazem ao SmartSPM uma solução perfeita para todas as facilidades do multi-usuário.

Teste seu modilhão antes das medidas running

Somente com o SmartSPM é tornado possível testar o revestimento reflexivo da parte traseira do modilhão antes de começar alguma medida traçando a distribuição da amplitude da oscilação do modilhão. Além, depois que o traço é feito, o operador pode manualmente escolher a posição a mais apropriada do ponto de laser sobre o modilhão baseado em suas exigências específicas da medida.

Encontre Rapidamente o lugar direito em sua amostra

A combinação da amostra motorizada que posiciona no plano horizontal e no sistema ótico de alta resolução da parte-vista permite que os pesquisadores encontrem facilmente a área de superfície onde a exploração mais adicional deve ser feita. Esta combinação é posta igualmente pelo agarramento video calibrado do software, assim que o usuário pode identificar lugar interessantes na superfície da amostra e mover o modilhão lá clicando na imagem vídeo no ecrã de computador. Durante este processo há umas luzes não irritantes piscar. A imagem óptica permanece absolutamente clara, porque o laser do AFM é 1300 nanômetro IR.

Quebre os limites do software

Para usuários avançados amba a língua scripting encaixada (Lua) e a macro-linguagem de programação de DSP estão disponíveis. Permitem que o usuário facilmente personalize e automatize sua experiência de SPM estendendo o software de SmartSPM com extensões do programa feito sob encomenda em categorias como a exploração, as curvas da força, o nanolithography, a selecção alta da produção (HTS) e o mais.

Definição. Estabilidade. Precisão

Devido à combinação do sistema de registo de baixo nível de ruído, do varredor original, da eletrônica avançada e dos procedimentos espertos da exploração que incorporam sobre 100 anos de experiência combinada da pesquisa de SPM, com os usuários do SmartSPM de AIST-NT pode executar as medidas originais que são extremamente difíceis, se possível de todo, para outros instrumentos de SPM.

O extra-seguros e jejuam ao mesmo tempo procedimento do acoplamento da ponta-amostra tornam possível proteger mesmo pontas frágeis muito afiadas de todo o dano possível. Devido à disponibilidade do modo de exploração verdadeiro um do não-contacto pode medir mesmo as amostras as mais delicadas e mecanicamente as mais sensíveis. Os procedimentos espertos originais da exploração permitem que o usuário obtenha as imagens de alta qualidade em objetos muito desafiantes como 120 nanoparticles nanômetro AG, ADN ou estruturas lamelosas do polímero.

Devido à construção muito bem-desenvolvida e calculada do AFM e do varredor, somente o instrumento de AIST-NT caracteriza tal estabilidade mecânica proeminente, que permite que o usuário obtenha imagens atômicas da definição com o mesmo varredor de 100 mícrons e ao mesmo tempo às imagens de alta qualidade do produto sem nenhumas tabelas do isolamento de vibração. Isto é da importância extrema para a integração do AFM com as facilidades ópticas sobre uma tabela óptica.

Last Update: 3. February 2012 16:32

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