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MicroXAM - Berührungsfreies Optisches Auswerteprogramm 100 von KLA Tencor

Die KLA-TencorEntwicklungs-Reihen von Auswerteprogrammen der Oberfläche 3D bieten eine komplette Lösung an, die auf den Bedarf der Technik- und Forschungsgemeinschaft sich konzentriert. Unsere Auswerteprogrammprodukte der Oberfläche 3D werden konstruiert, um die mannigfaltigen Anforderungen unserer Abnehmer durch die Lieferung von Vollfunktionsoberflächenauswerteprogrammprodukten, Integration von neuen Technologien und verbesserte Leistung übereinzustimmen.

  • 250 ìm Vertikalenreichweite Endlosschleife
  • P/IN (Phase) und VSI-Modus (vertikal)
  • 100mm x 100mm manuelle Probe, die Stufe in Position bringt (wahlweise100mm x 100mm motorisierte Stufe)
  • Festkörperlichtquelle
  • Wahlweisenähen und Selbstausrichtung von Bildern
  • Windows XP und Vista kompatibel
  • Das MicroXAM-100 3D Oberflächenauswerteprogramm nzt unseren ein Profil erstellenden Oberflächeneffektenbestand ergä, indem es weiße Leuchte kombiniert und Interferometrie für die genauen, zerstörungsfreien Oberflächenmaße Phase-verschiebt, die innerlich und permanent zu einer Standardwellenlänge der Leuchte erwähnt werden. Die Oberflächenauswerteprogrammanlage liefert genaues, hochauflösend, berührungsfrei
  • Profile 3D von machen und raue Oberflächen glatt. Die intuitive Windows-Benutzerschnittstelle erlaubt einfache und reproduzierbare Programmnavigation.

Das Oberflächenauswerteprogramm 3D MicroXAM -100 kann Gesichtsfelder von 100 X 100 Mikrons zu 2,0 X 2,0 mm messen (abhängig vom Objektiv verwendet). Das optische Interferometer MicroXAM 100 schnell und misst genau die Topographie 3D von Oberflächen auf dem nmniveau mit einer Zscan Reichweite 250 Mikrons (oder bis 10 mm mit dem Z-Nähen). Mit den nähenden Fähigkeiten des neuen Bildes 3D können Geisterbilder zusammen genäht werden, um erweiterte Gesichtsfelder zu produzieren.

Anwendungen:

  • OberflächenBeschaffenheit
  • Präzisionsschritthöhe
  • Oberflächenformular
  • Dünnfilmdruck
  • Biologisch
  • MEMS
  • Darstellung 3D
  • Materielle Kennzeichnung

Dieses Produkt war früher das Ambios Xi-100 Plus - OberflächenStraßenoberflächenmessgerät und Interferometer

Last Update: 16. July 2013 07:47

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