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MicroXAM - Profiler Óptico Sin contacto 100 de KLA Tencor

Las Series del Revelado de KLA-Tencor de profilers de la superficie 3D ofrecen una solución completa que se centra en las necesidades de la comunidad de la ingeniería y de investigación. Nuestros productos del profiler de la superficie 3D se diseñan para corresponder con los requisitos variados de nuestros clientes con la salida de los productos superficiales completamente equipados del profiler, la integración de nuevas tecnologías, y el funcionamiento mejorado.

  • rango de la vertical del bucle cerrado de 250 ìm
  • PSI (fase) y modo de VSI (vertical)
  • muestra manual de 100m m x de 100m m que coloca el escenario (100m m opcional x escenario motorizado 100m m)
  • fuente de luz de estado sólido
  • Costura Opcional y alineación auto de imágenes
  • Windows XP y Vista compatibles
  • El profiler de la superficie de MicroXAM-100 3D complementa nuestra cartera de perfilado superficial combinando la luz blanca y la interferometría defasadora para las mediciones superficiales exactas, no destructivas que se refieren internamente y permanente a una longitud de onda estándar de la luz. El sistema superficial del profiler proporciona a exacto, de alta resolución, sin contacto
  • los perfiles 3D de alisan y las superficies ásperas. La interfaz de usuario intuitiva de Windows permite la navegación simple y reproductiva del programa.

El profiler superficial 3D de MicroXAM -100 puede medir campos visuales a partir de 100 X 100 micrones a 2,0 X 2,0 milímetros (de relacionado en el lente de objetivo usado). El interferómetro óptico de MicroXAM 100 rápidamente y mide exactamente la topografía 3D de superficies en el nivel del nanómetro con un radio de acción de la z-exploración de 250 micrones (o hasta 10 milímetros con la Z-Costura). Con las capacidades de costura de la nueva imagen 3D, las imágenes múltiples se pueden coser juntas para producir campos visuales extendidos.

Aplicaciones:

  • Textura Superficial
  • Altura del paso de progresión de la Precisión
  • Formulario Superficial
  • Tensión de la película Fina
  • Biológico
  • MEMS
  • proyección de imagen 3D
  • Caracterización Material

Este producto era antes el Ambios Xi-100 Más - el Rugosímetro y el Interferómetro Superficiales

Last Update: 16. July 2013 07:50

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