Le Serie dello Sviluppo di KLA-Tencor di profilatori della superficie 3D offrono una messa a fuoco completa della soluzione sui bisogni della comunità di ricerca e di assistenza tecnica. I Nostri prodotti del profilatore della superficie 3D sono destinati per abbinare i requisiti vari dei nostri clienti con la consegna dei prodotti di superficie completi del profilatore, l'integrazione delle nuove tecnologie e la prestazione migliore.
- intervallo di verticale del ciclo chiuso di 250 ìm
- PSI (fase) e modo di VSI (verticale)
- campione manuale di 100mm x di 100mm che posiziona fase (100mm facoltativo x fase motorizzata 100mm)
- sorgente luminosa semi conduttrice
- Cucitura Facoltativa ed allineamento automatico delle immagini
- Windows XP e Vista compatibili
- Il profilatore della superficie di MicroXAM-100 3D complementa il nostro portafoglio di delineamento di superficie combinando la luce bianca e fase-spostando l'interferometria per le misure di superficie precise e non distruttive che internamente e permanentemente sono fornite di rimandi ad una lunghezza d'onda standard di indicatore luminoso. Il sistema di superficie del profilatore fornisce preciso, ad alta definizione, senza contatto
- i profili 3D di sia lisciano che superfici ruvide. L'interfaccia utente intuitiva di Windows permette il percorso semplice e riproducibile di programma.
Il profilatore di superficie 3D di MicroXAM -100 può misurare i campi di visibilità da 100 X 100 micron dipendente a 2,0 X 2,0 millimetri (dall'obiettivo utilizzato). L'interferometro ottico di MicroXAM 100 rapidamente e misura esattamente la topografia 3D delle superfici al livello di nanometro con un intervallo di z-scansione di 250 micron (o di fino a 10 millimetri con la Z-Cucitura). Con le capacità di cucitura di immagine nuova 3D, le immagini multiple possono essere cucite insieme per produrre i campi di visibilità estesi.
Applicazioni:
- Tessitura Di Superficie
- Altezza di punto di Precisione
- Modulo Di Superficie
- Sforzo della pellicola Sottile
- Biologico
- MEMS
- rappresentazione 3D
- Caratterizzazione Materiale
Questo prodotto era precedentemente il Ambios Xi-100 Più - Profilometro ed Interferometro Di Superficie