MicroXAM - Profilatore Ottico Senza contatto 100 da KLA Tencor

Le Serie dello Sviluppo di KLA-Tencor di profilatori della superficie 3D offrono una messa a fuoco completa della soluzione sui bisogni della comunità di ricerca e di assistenza tecnica. I Nostri prodotti del profilatore della superficie 3D sono destinati per abbinare i requisiti vari dei nostri clienti con la consegna dei prodotti di superficie completi del profilatore, l'integrazione delle nuove tecnologie e la prestazione migliore.

  • intervallo di verticale del ciclo chiuso di 250 ìm
  • PSI (fase) e modo di VSI (verticale)
  • campione manuale di 100mm x di 100mm che posiziona fase (100mm facoltativo x fase motorizzata 100mm)
  • sorgente luminosa semi conduttrice
  • Cucitura Facoltativa ed allineamento automatico delle immagini
  • Windows XP e Vista compatibili
  • Il profilatore della superficie di MicroXAM-100 3D complementa il nostro portafoglio di delineamento di superficie combinando la luce bianca e fase-spostando l'interferometria per le misure di superficie precise e non distruttive che internamente e permanentemente sono fornite di rimandi ad una lunghezza d'onda standard di indicatore luminoso. Il sistema di superficie del profilatore fornisce preciso, ad alta definizione, senza contatto
  • i profili 3D di sia lisciano che superfici ruvide. L'interfaccia utente intuitiva di Windows permette il percorso semplice e riproducibile di programma.

Il profilatore di superficie 3D di MicroXAM -100 può misurare i campi di visibilità da 100 X 100 micron dipendente a 2,0 X 2,0 millimetri (dall'obiettivo utilizzato). L'interferometro ottico di MicroXAM 100 rapidamente e misura esattamente la topografia 3D delle superfici al livello di nanometro con un intervallo di z-scansione di 250 micron (o di fino a 10 millimetri con la Z-Cucitura). Con le capacità di cucitura di immagine nuova 3D, le immagini multiple possono essere cucite insieme per produrre i campi di visibilità estesi.

Applicazioni:

  • Tessitura Di Superficie
  • Altezza di punto di Precisione
  • Modulo Di Superficie
  • Sforzo della pellicola Sottile
  • Biologico
  • MEMS
  • rappresentazione 3D
  • Caratterizzazione Materiale

Questo prodotto era precedentemente il Ambios Xi-100 Più - Profilometro ed Interferometro Di Superficie

Last Update: 16. July 2013 07:47

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