MicroXAM - Perfilador Óptico de 100 Não-Contactos de KLA Tencor

MicroXAM - Perfilador Óptico de 100 Não-Contactos de KLA Tencor

As Séries da Revelação de KLA-Tencor de perfiladores da superfície 3D oferecem uma solução completa que centra-se sobre as necessidades da comunidade da engenharia e de pesquisa. Nossos produtos do perfilador da superfície 3D são projectados combinar as exigências variadas de nossos clientes com a entrega de produtos de superfície completamente caracterizados do perfilador, a integração das novas tecnologias, e o desempenho melhorado.

  • escala do vertical do laço fechado de 250 ìm
  • LIBRA POR POLEGADA QUADRADA (fase) e modo de VSI (vertical)
  • amostra manual de 100mm x de 100mm que posiciona a fase (100mm opcional x fase motorizada 100mm)
  • fonte luminosa de circuito integrado
  • Costura Opcional e auto alinhamento das imagens
  • Windows XP e Vista compatíveis
  • O perfilador da superfície de MicroXAM-100 3D complementa nossa carteira de perfilamento de superfície combinando a luz branca e a interferometria deslocadora para as medidas de superfície precisas, não-destrutivas que são providas internamente e permanentemente a um comprimento de onda padrão da luz. O sistema de superfície do perfilador fornece preciso, de alta resolução, não-contacto
  • os perfis 3D de alisam e superfícies ásperas. A interface de utilizador intuitiva de Windows permite a navegação simples e reprodutível do programa.

O perfilador 3D de superfície de MicroXAM -100 pode medir campos de vista de 100 X 100 mícrons a 2,0 X 2,0 milímetros (dependente da lente objetiva usada). O interferómetro óptico de MicroXAM 100 rapidamente e mede exactamente a topografia 3D das superfícies a nível do nanômetro com uma escala da z-varredura de 250 mícrons (ou de até 10 milímetros com Z-Costura). Com as capacidades de costura da imagem 3D nova, as imagens múltiplas podem ser costuradas junto para produzir campos de vista prolongados.

Aplicações:

  • Textura De Superfície
  • Altura da etapa da Precisão
  • Formulário De Superfície
  • Esforço do filme Fino
  • Biológico
  • MEMS
  • imagem lactente 3D
  • Caracterização Material

Este produto era anteriormente o Ambios Xi-100 Mais - o Profilometer e o Interferómetro De Superfície

Last Update: 16. July 2013 07:49

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