Analizador de Skyray XRF Thick-800 XRF

La Fluorescencia de la Radiografía (XRF) es un método de obtener mediciones exactas del espesor de capa. Los analizadores de XRF proporcionan a un método versátil, sin contacto para obtener mediciones de las capas finas de las películas, de una sola capa y de múltiples capas en grande a los pequeños componentes con la alta precisión (las capas comunes incluyen el oro, la plata, el cobre, el níquel, el estaño y el cinc). El equipo de prueba de XRF ofrece exactitud sobre un rango elemental ancho y proporciona al archivo y al parte del simple-a-uso que siguen su trayectoria para cumplir requisitos del control de calidad.

El Thick-800 es una solución no destructiva de la prueba para las organizaciones que necesitan control de calidad exacto de placas de circuito y de la electrónica impresas. Las capacidades de la Prueba incluyen mediciones de múltiples capas del espesor y la prueba de RoHS de la junta de la soldadura. El Thick-800 se desarrolla específicamente para las mediciones del espesor de capa

Ventajas:

  • Ventana De Cristal de la Puerta/del Compartimiento: tiene en cuenta virtualmente cualquier talla del PWB ser probado y la garantía exacta de la mancha es posible con el sistema de la cámara
  • Escenario Móvil de la Muestra: El botón Simple proporcionará rápidamente al movimiento tridimensional completo del escenario de la muestra (delantero-detrás, izquierda-derecha, el up-down)

Last Update: 3. February 2012 16:35

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