Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

Skyray XRF 厚实的 800 XRF 分析程序

X-射线荧光 (XRF)是得到准确涂层厚度评定一个方法。 XRF 分析程序提供一个多才多艺,没有接触的方法得到薄膜,单层和多层涂层的评定在大到与高精度的小的要素 (公用涂层包括金子、银、铜、镍、锡和锌)。 XRF 试测器材提供在一个宽基本范围的准确性并且提供方便操作的跟踪记录和的报表符合质量管理要求。

厚实800 是需要印刷电路板和电子准确质量管理的组织的一个非破坏性的测试解决方法。 测试功能包括多层厚度评定和焊剂联接 RoHS 测试。 厚实800 为涂层厚度评定特别地被开发

福利:

  • 玻璃门/房间视窗: 允许实际上 PCB 的所有范围被测试,并且确切的地点保证对照相机系统是可能的
  • 移动范例阶段: 简单的按钮将迅速提供范例阶段 (前,左右, up-down) 的充分的三维移动

Last Update: 3. February 2012 16:17

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this equipment listing?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment