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Tranches De Temps de FEI 50 Séries Balayant le Microscope Électronique

La famille de Tranches De Temps de FEI inclut six variable-pressions et les microscopes électroniques environnementaux de lecture (ESEM) et deux systèmes de DualBeam, qui peuvent faciliter des conditions multiples d'échantillon et de représentation pour les laboratoires à régulation de processus industriels, les laboratoires de science des matériaux et les laboratoires de sciences de la vie.

La famille de Tranches De Temps de FEI sont les microscopes électroniques versatiles et performants de lecture, avec trois modes (vide poussé, aspirateur faible et ESEM) pour faciliter l'éventail d'échantillons de n'importe quel système de SEM. Tous Les systèmes de SEM peuvent être équipés des systèmes analytiques, tels que le spectromètre dispersif d'énergie, la spectroscopie aux rayons X de longueur d'onde et la diffraction dispersives de rétrodiffusion d'électron.

Les Tranches De Temps de FEI 50 séries fournit la souplesse et la souplesse pour traiter les défis de la recherche étendue d'aujourd'hui a besoin. Visualisez n'importe quel échantillon et obtenez toutes les images extérieures et compositionnelles de données - peut être combiné avec des accessoires pour déterminer les propriétés matérielles et la composition élémentaire.

Les Tranches De Temps de FEI 50 séries ajoute les caractéristiques techniques neuves telles que SmartSCAN, Épargne d'Image Multiple et une échographie a pré-établi la barre d'outils au logiciel de gestion facile à utiliser. De plus, les caractéristiques techniques neuves sont disponibles comme la NAV-Came (appareil-photo témoin de couleur), la Décélération de Poutre (performance faible de kilovolt) et les options Neuves de détecteur.

Last Update: 3. February 2012 16:22

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