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FEI 數量 50 系列掃描電子顯微鏡

FEI 數量系列包括六可變壓和環境掃描電子顯微鏡 (ESEM)和二個 DualBeam 系統,可能適應行業程序控制的實驗室、材料學實驗室和生命科學實驗室的多個範例和想像需求。

FEI 數量系列是多才多藝,高性能掃描電子顯微鏡,在三個模式 (高真空、低真空和 ESEM) 下適應大範圍所有 SEM 系統範例。 所有 SEM 系統可以用分析系統裝備,例如能源分散性分光儀、波長分散性 X-射線分光學和電子背景散射衍射。

FEI 數量 50 系列提供靈活性,并且處理今天廣泛研究的挑戰的通用性需要。 查看所有範例并且獲得所有數據 - 表面和作文圖像能與確定的有形資產和基本構成輔助部件結合。

FEI 數量 50 系列添加新的功能例如 SmartSCAN,多重圖像節省額,并且掃描預先了設定工具欄對易用控制軟件。 另外,新的功能是可用的像 Nav 凸輪 (顏色範例照相機),射線減速 (低 kV 性能) 和新的探測器選項。

Last Update: 3. February 2012 16:18

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