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Rasterelektronenmikroskop Sonde FEI PSEM

Rasterelektronenmikroskop Sonde FEI PSEM

Jetzt in seiner dritten Generation, ist die PSEM-Sonde für die automatisierte Darstellung und die elementare Analyse eines breiten Spektrums der Oberflächen und der Partikel bestimmt. Eine eindeutige Mischung von Kleinteile Ruggedization und von Software-Kultiviertheit erstellt eine Anlagenplattform, die betriebsbereit zugänglich ist.

Mit Absicht Industrialisiert

Die folgenden Gründungsherstellungsphilosophien aktivieren FEI-Geräte eingebaut zu sein, wo der Wettbewerb nie gewesen ist:

  • Stabilität u. Reproduzierbarkeit
  • Herabgesetzte Ausfallzeit
  • Zuverlässigkeit u. Brauchbarkeit
  • Entwickelte Inszenierung
  • Umweltabschirmung
  • Benutzerfreundlichkeit
  • Garantierte Leistung

Nahtlose Lösungen für Mikroanalyse

Jede Sonde FEI PSEM kommt ausgerüstet mit der Vorstellungssoftware-Reihe, die ein starkes Set Produktivitätshilfsmittel für Mikroanalyse liefert. Wenn Sie verbunden werden mit wahlweiseFEI-Software wie…

  • AFA Automatisierte Merkmals-Analyse
  • Komplexe Merkmals-Analyse CFA
  • MQA-MetallQualitäts-Analyse
  • GSR-Gewehr-Kies-Rückstand-Analyse

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