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Microscopio Electrónico De Exploración del explorador de FEI PSEM

Microscopio Electrónico De Exploración del explorador de FEI PSEM

Ahora en su tercera generación, diseñan al explorador de PSEM para la proyección de imagen automatizada y el análisis elemental de una amplia gama de superficies y de la macropartícula. Una mezcla única del ruggedization de la dotación física y de la sofisticación del software crea una plataforma del sistema que sea fácilmente accesible.

Industrializado por Diseño

Las filosofías de fundación siguientes de la fabricación permiten a unidades de FEI ser instaladas donde nunca ha estado la competencia:

  • Estabilidad y Reproductibilidad
  • Tiempo Fuera De Servicio Disminuido
  • Confiabilidad y Utilidad
  • Andamiaje Desarrollado
  • El Proteger Ambiental
  • facilidad de empleo
  • Funcionamiento Garantizado

Soluciones Inconsútiles para el Microanálisis

Cada explorador de FEI PSEM viene equipado del suite de software de la Opinión, que proporciona a un conjunto potente de las herramientas de la productividad para el microanálisis. Cuando está acoplado con software opcional de FEI por ejemplo…

  • Análisis de Característica Automatizado AFA
  • Análisis de Característica Complejo del CFA
  • Análisis de la Calidad del Metal de MQA
  • Análisis del Residuo del Tiro de la Pistola de GSR

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