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Microscope Électronique de Lecture d'explorateur de FEI PSEM

Microscope Électronique de Lecture d'explorateur de FEI PSEM

Maintenant dans son troisième génération, l'explorateur de PSEM est conçu pour la représentation robotisée et l'analyse élémentaire d'un large spectre des surfaces et de la substance particulaire. Un seul mélange de ruggedization de matériel et de sophistication de logiciel produit une plate-forme de système qui est promptement accessible.

Industrialisé par Design

Les philosophies de fondation suivantes de fabrication permettent à des ensembles de FEI d'être installés où la concurrence n'a jamais été :

  • Stabilité et Reproductibilité
  • Temps D'arrêt Réduit À Un Minimum
  • Fiabilité et Fonctionnement Normal
  • Échafaudage Évolué
  • Armature Environnementale
  • facilité d'utilisation
  • Performance Garantie

Solutions Sans Joint pour la Microanalyse

Chaque explorateur de FEI PSEM vient équipé de la suite logiciel de Perception, qui fournit un puissant ensemble d'outils de productivité pour la microanalyse. Une Fois ajouté au logiciel optionnel de FEI comme…

  • Analyse de Caractéristique technique Robotisée d'AFA
  • Analyse de Caractéristique technique Complexe de CFA
  • Analyse de Qualité En Métal de MQA
  • Analyse des Résidus de Piqûre de Canon de GSR

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