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FEI PSEM の探検家の走査型電子顕微鏡

FEI PSEM の探検家の走査型電子顕微鏡

ここで第三世代で、 PSEM の探検家は表面および微粒子の広い範囲の自動化されたイメージ投射そして元素分析のために設計されています。 ハードウェアの ruggedization およびソフトウェアの洗練の一義的なブレンドは容易にアクセス可能であるシステムプラットホームを作成します。

デザインによって工業化される

次の創設の製造業の哲学はずっと競争が決して下記のとおりではないところに FEI の単位がインストールされることを可能にします:

  • 安定性及び再現性
  • 最小化された補充所要時間
  • 信頼性及び修理可能
  • 展開させたステージング
  • 環境の保護
  • 使い易さ
  • 保証されたパフォーマンス

微視的分析のための継ぎ目が無い解決

各 FEI PSEM の探検家は強力な一組の微視的分析のための生産性のツールを提供する認識のソフトウェアスイートと装備されていて来ます。 のような任意選択 FEI のソフトウェアとつながれた場合…

  • AFA によって自動化される特徴解析
  • CFA の複雑な特徴解析
  • MQA の金属の品質の分析
  • GSR 銃の打撃の残余の分析

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