Hitachis entbinden Fokussierte Ionen (FIB)Trägeranlagen schnelle und genaue Probenaufbereitung, die herkömmlichen Techniken weit überlegen ist. Erhältlich entweder mit einem Hitachi SEM oder TEM-Stufe, erlaubt die FLUNKEREI den Gebrauch der kompatiblen Halterungen für Probenmaterialvorbereitung und nachfolgende TEM- oder SEM-Beobachtung im Hilfsmittel der Wahl. Zusätzlich Hitachis versieht patentierte Microsamplings-Anlage Benutzer mit nicht angepassten in-situ-liftout Fähigkeiten, die groß Durchsatz erhöhen.
Das FB-2100 erlaubt schnelle und genaue Probenmaterialvorbereitung für Übertragung und Rasterelektronenmikroskopie von Halbleitern und von anderem fortgeschrittenem Werkstoff.
Hauptmerkmale:
- Hohe Präzision und hohe Prägekinetik
- Der Gebrauch von einer neues niedriges Abweichungsionenoptischen Anlage erlaubt einen maximalen Strahlstrom von 30nA an einer Beschleunigungsspannung von 40 KV. Wahlweise wird ein hohes aktuelles columncan Ion mit einem garantierten Strahlstrom von größer als 60 nAmps bestellt
- Ein microsampling TEM/STEM, das in-situ ist, heben Anlage ist erhältlich wahlweise heraus
- Site wird spezifische Mikromusterstück Zubereitung aus Gesamtproben in einer vollständig trockenen Vakuumumgebung erzielt, Vorbereitung von Proben von den fremden der Oxidation, der Aufladung und anderen frei erlaubend Problemen der Partikel,
- Minderungsprobenmaterialschaden
- Kompatible Objekttischen für FB-2100 und Hitachi TEMs/SEMs werden für Probenmaterialvorbereitung mit hoher Präzision und Zuverlässigkeit versehen. Diese Anordnung darf Mahlen und Mikroskopie ohne das speciment, das wenn sie die Probe zwischen Ihr Hitachi TEM umsetzt, überträgt, oder SEM, das Probenmaterial herabsetzt, beschädigen während der wiederholten Vorbereitung und der Mikroskopie.
- Eine große Auswahl von Strahlenenergien
- Operatoren können die optimale Betriebsspannung (oder Energie) für das Mahlen und Mikroskopie zur besten Klage wählen das Probenmaterial. Die Senkung des KV zu 2kV setzt die amorphos Schadenschicht herab.