HD-2300A のスキャン伝達電子顕微鏡は半導体のアプリケーションおよび他の複雑な材料の極めて薄いフィルムの評価そして分析のための必要性に応じて導入されました。 最新のフィールド放出技術を使用して、 HD-2300A は 10,000,000x の最大拡大を用いる 0.2nm よりよいで、保証される高解像イメージ投射機能を提供します。 簡単操作および自動化されたコラムのアラインメントは HD-2300A がハイエンド結果をすぐに生むことができる使いやすいシステムの提供によって機能に寄与する今日の最新の SEM 単に動作するようにします。
HD-2300A は高められた感度 (立体角 0.3sr) のエネルギー分散 X 線スペクトロメータによって元素マップ/linescans およびスペクトルの速い獲得を許可するために、装備することができます。 HD-2300A のホールダーはサイト特定のサンプル準備のための広範囲の調査システムおよび挑戦的なサンプルの分析を提供する FB-2100 によって集中されるイオンビームシステムと互換性があります。 デジタル画像システムは画像表示の主パラメータの重大な次元の測定を直接可能にしま、評価のためのユーザーのネットワークに直接かこれからのプロセスおよび分析転送されるべき画像およびデータ許可します。
主要特点:
- 保証される 0.2nm 解像度
- 高度の分析的なパフォーマンス
- 新しいレベルに使い易さを持って来ること
- 高い感度 EDS の分析および高エネルギーの解像度のウナギ