HD-2300A scanning transmissionselektronmikroskop infördes som svar på behovet av utvärdering och analys av tunna filmer i halvledartillämpningar och andra komplexa material. Med den senaste tekniken fältemission erbjuder HD-2300A högupplösta bildhanteringsfunktioner, garanterat på bättre än 0.2nm, med en maximal förstoring av 10.000.000 x. Förenklad drift och automatiserade kolumnen anpassning gör att HD-2300A att fungera så enkelt som dagens senaste SEM, gynnar anläggningar genom att tillhandahålla ett lättanvänt system som kan producera avancerade resultat snabbt.
HD-2300A kan utrustas med en energi spridningsoptik röntgenspektrometer, med förbättrad känslighet (rymdvinkel> 0.3sr) för att tillåta snabba förvärv av elementärt kartor / linescans och spektra. HD-2300A innehavare är kompatibla med FB-2100 Fokuserad jonstråle systemet och erbjuder ett omfattande undersökande system för platsspecifik provberedning och analys av utmanande prover. Det digitala bildsystem låter kritisk dimension mätningar av nyckelparametrar direkt på kamerans bildskärm, vilket gör att bilder och data som ska överföras direkt till användarens nätverk för utvärdering eller vidare bearbetning och analys.
Viktiga funktioner:
- 0.2nm upplösning garanteras
- Avancerade analytiska prestanda
- Att användarvänlighet till en ny nivå
- Hög känslighet EDS analys och hög energi ELES upplösning