Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

Рабочее место Поперечной балки AURIGA Карл Zeiss (FIB-SEM)

Работающ с вашим образцом покрывает больше чем как раз воображение поверхности? Вы также хотел были бы знать о химическом составе или словотолковании вашего образца? Вы curios о глубоких характеристиках тома 3D? Или вы даже планируете доработать или обработать ваш образец?

AURIGA™ новое Рабочее место CrossBeam® (FIB-SEM) от Карл Zeiss SMT точно поставляет вс это - на nanoscopic маштабе. Используя колонку FIB лучш-в-типа и собственническую колонку e-Луча ДЖЕМИНИ от Карл Zeiss, вместе с вполне новой конструированной камерой вакуума для предварительного analytics, AURIGA™ помогает вам в получать максимальную информацию возможную из вашего образца.

Преимущества AURIGATM

  • Уникально Воображение
  • Предварительный Analytics
  • Точный Обрабатывать
  • Убеженное Будущее

Last Update: 12. October 2012 10:47

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment