碳設計創新的 (C|D|I) 碳核心高方面比例為與核心碳 nanotube 的
基本強制 (AFM)顯微學起始時間
探查 (CCHAR) (CNT) 并且是然後進一步處理和穩定與給予專利的技術造成與最大長寬比、解決方法、想像壽命和穩定性的 CNT 探測。
CCHAR 高方面比例 CNT AFM 探測，為重要維數評定和想像高的 Z 結構設計在材料學、計量學和生命科學應用。 標準 CNT 探測長度是大約 1µm 整體與 < 500nm="" of="" exposed="" CNT="" tip="">
碳 Nanotube (CNT) 探測比傳統硅探測可能提供更加穩健的有形資產。 CNT 探測不是易碎的，并且一樣迅速地不受麻煩，像硅比 10X 更長的想像壽命探查允許極大。 有真的 multiwalled 碳 nanotubes，安全地 (MWCNTs)被掛接的 CCHAR 探測，完全平直和正常對想像表面。 C|D|我其探測的用途 MWCNTs 能保證探測是非常堅韌的。 C|D|我所有權進程安全地附有 CNT 懸臂并且增強基本附件保證 CNT 安全地被掛接。 C|D|我技術允許探測製造與 CNT 技巧和穩定性的所有硅懸臂的好處和熟悉程度的。
實際上穩健有形資產比對硅或無定形的碳峰值探測也允許 CNT 探測能承受 AFM 想像強制以一個更高的長度對寬度比例可能的。 C|D|I 的給予專利的處理技術提供準確的角度，并且造成 nanoengineered 重要維數的長度控制為高方面比例想像應用探查。
福利
- 被穩定的，穩健 CNT 探測以最大化的長寬比
- 與硅懸臂的便利的高分辨率 CNT 技巧
- 啟用重要維數溝槽或漏洞結構想像與高的 Z 維數差異的
- 更長的壽命允許用戶範例與同一探測比較沒有解決方法損失
- 減少的破損、穿戴和汙穢
- 準確的長度、直徑和角度實現一致的探測對探測結果
功能
- CNT 直徑 <40nm with="" sharpened="" apex="">
- 整體 CNT 長度： 1µm，顯示 CNT 長度： <500nm>
- 所有權安定塗層
- 硅探查的想像 lifetime10X
- 自定義長度、可用長寬比和的角度
- 可用對 12KHz 和 70KHz 懸臂式 CCHAR 懸臂特性
- 麴率半徑 <10nm>
- 長寬比 100:1
- 角位移 < 2="">
- 可用可變的彈簧的常數