Microscopio Atómico de la Fuerza del Icono de la Dimensión (AFM) de Bruker

El Microscopio Atómico de la Fuerza de Dimension® Icon® con ScanAsyst™ trae nuevos niveles de funcionamiento, de funciones, y de accesibilidad del AFM a los investigadores del nanoscale en ciencia e industria. El Edificio sobre la plataforma utilizada del AFM de la grande-muestra del mundo, el último sistema de la Dimensión es la culminación de décadas de innovación tecnológica, de comentarios de clientes y de adaptabilidad industria-de cabeza de la aplicación. El Icono se ha diseñado de arriba a abajo para entregar la desviación inferior revolucionaria y de poco ruido que permite que los utilizadores logren imágenes artefacto-libres en minutos en vez de horas, activando productividad creciente.

Funcionamiento y Productividad del AFM Redefinidos

Incorporando la última evolución de la tecnología industria-de cabeza del AFM de la punta-exploración de Bruker, los sensores de la posición de la Dimensión temperatura-que compensan del AFM del Icono rinden los niveles de ruidos en los sub-angstromes colocan para Z-AXIS, y los angstromes en X-Y. Éste es funcionamiento extraordinario en una grande-muestra, sistema del rango de la exploración de 90 micrones, superando el funcionamiento del ruido del AFMs más de anillo abierto, más de alta resolución.

Además de la resolución superior, muchas de las nuevas características de la Dimensión del AFM del Icono se diseñan específicamente para aumentar utilidad y la productividad para los nuevos y expertos investigadores del AFM:

  • El diseño Propietario del sensor logra funcionamiento a circuito cerrado con los niveles de ruidos de anillo abierto para la resolución previamente no vista en la grande-muestra AFMs
  • la carga a circuito cerrado de XYZ del Nuevo-Diseño entrega una velocidad más alta de la exploración, sin la baja de la calidad de la imagen, activando la mayor producción para la colección de datos
  • La Última versión del software de NanoScope ofrece un flujo de trabajo intuitivo y los modos del experimento del valor por defecto que destilan procesos avanzados del AFM en configuraciones preconfiguradas
  • La cámara De Alta Resolución y la colocación X-Y permiso más rápidamente, una navegación más eficiente de la muestra
  • El acceso Abierto De Par En Par a la punta y a la muestra acomoda una gran variedad de patrón y de experimentos modificados para requisitos particulares
  • El Soporte Físico y el software aprovechan más completo de todos los modos y técnicas actuales y futuros de Bruker AFM, incluyendo nuestra Propiedad Material revolucionaria de HarmoniX Nanoscale Que Correlaciona modo

La facilidad de empleo infrecuente del Icono de la Dimensión, el funcionamiento final, la productividad excepcional, y la flexibilidad superior le toman la decisión obvia para prácticamente cada aplicación del AFM. Nunca ha sido tan fácil conseguir tanto los datos de alta calidad tan rápidamente.

Last Update: 31. January 2012 23:56

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment