SENTECH Ellipsometer SENresearch Spectroscopique

La famille spectroscopique à bande large d'ellipsometer de SENresearch est conçue pour répondre aux besoins de la recherche moderne avec l'accent particulier sur la vitesse et l'exactitude pour une variété inégalée d'applications.

La famille de SENresearch des ellipsometers spectroscopiques traite les effets des échantillons de monde réel comme la dépolarisation, les irrégularités, la dispersion et la réflexion de postérieur. Des ellipsometers de SENresearch sont actionnés par SpectraRay/3, logiciel complet de SENTECH pour l'acquisition de données, la modélisation, l'ajustement, et l'enregistrement d'ellipsométrique, de la réflexion, et des données de boîte de vitesses.

Applications

Les applications Principales des ellipsometers spectroscopiques à bande large de SENresearch sont :

  • Épaisseur et Indice de réfraction des films et des piles multicouche
  • Analyse de composition matérielle
  • Incrément d'Absorption
  • Gradient d'Incrément
  • Rugosité de Surface/surface adjacente
  • Comportement Anisotrope

Last Update: 11. January 2012 04:39

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