Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D

SENTECH Спектроскопическое Ellipsometer SENresearch

Конструируют для того чтобы соотвествовать семейство ellipsometer SENresearch широкополосное спектроскопическое самомоднейшего исследования с особым акцентом на скорости и точности для бесподобного разнообразия применений.

Семейство SENresearch спектроскопических ellipsometers обрабатывает влияния образцов реального мира как располяризация, non-единообразия, разбрасывать и отражение задней стороны. Ellipsometers SENresearch эксплуатируются SpectraRay/3, ПО SENTECH всесторонним для сбора информации, моделированием, приспособлением, и сообщать ellipsometric, отражения, и данных по передачи.

Применения

Главные программы ellipsometers SENresearch широкополосных спектроскопических являются следующими:

  • Толщина и R.I. фильмов и разнослоистых стогов
  • Анализ материального состава
  • Индекс Абсорбциы
  • Градиент Индекса
  • Шершавость Поверхности/интерфейса
  • Неравносвойственное поведение

Last Update: 11. January 2012 04:51

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment