SENTECH Infrarot-Ellipsometer SENDIRA

Im Infrarotspektralbereich wird spektralanalytisches ellipsometry an den Verstärkungsinformationen von Schwingungs- und elektrischen Eigenschaften von Schichten und von Materialien angewendet.

Das SENDIRA-Infrarot-ellipsometer umfaßt den Infrarotspektralbereich von µm 1,7 bis zu µm 25 (6.000 cm-1 bis 400 cm-1) mit FTIR-Präzision und -hoher Auflösung. Das SENDIRA stellt ausführliche Chemikalien-, mechanische, elektrische und optischeinformationen auf komplexen Schichtanlagen zur Verfügung. Mit dem SENDIRA mögen Untersuchung von neuen Schichtmaterialien organische Leiter, OLEDs, und Polymere im Spektralbereich von Schwingungsspektroskopie bietet hervorragende Ergebnisse an.

Das SENDIRA ist ein ausgezeichnetes Forschungshilfsmittel, das in der Qualitätskontrolle effektiv auch verwendet werden kann. Substratflächen bis zu 200 mm-Durchmesser können nachgeforscht werden und gescannt werden.

Der externe Träger eines FTIR wird verwendet, während Strahlenquelle und deshalb, anbietende maximale Flexibilität, das Spektrometer als unabhängiges Hilfsmittel noch verwendet werden kann. Die Maßstelle auf der Probe kann mittels einer Bereichöffnung eingestellt werden.

Das SENDIRA enthält die gereinigte Infrarotoptik einschließlich Dauerbremse, motorisiertes Goniometer, Beispielstufe, PC, Steuerelektronik und Software SENTECH SpectraRay/3 für Datenerfassung, Bibliothek basierte Formung, Simulation und Spektralbeschlag.

Anwendungen

Haupt- Anwendungen der SENDIRA-Infrarot-ellipsometers umfassen:

  • Stärke und Brechungskoeffizient von Filmen und von Schichtstapeln
  • Optische Eigenschaften von Materialien im MIR-Spektralbereich
  • Ladungsträgerdichte und Ladungsträgerbeweglichkeit
  • Analyse der chemischen Zusammensetzung
  • Untersuchung von anisotropen organischen Filmen

Last Update: 11. January 2012 04:41

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