SENTECH 红外 Ellipsometer SENDIRA

SENTECH 红外 Ellipsometer SENDIRA

在红外光谱范围,分光镜 ellipsometry 适用于层和材料振动和电子属性的收益信息。

SENDIRA 红外 ellipsometer 报道从 1.7 µm 的红外光谱范围至 25 µm (6,000 cm-1 到 400 cm-1) 用 FTIR 精确度和高分辨率。 SENDIRA 在复杂层系统提供详细化学制品,机械,电子和光学信息。 使用 SENDIRA,新的层材料的调查喜欢有机导体, OLEDs,并且在振动分光学的光谱范围的聚合物提供未清结果。

SENDIRA 是在质量管理可以有效使用的一个非常好的研究工具。 至 200 mm 直径的基体可以调查和浏览。

FTIR 的外部射线,当辐射源并且,提供的最大的灵活性,分光仪可能仍然使用作为一个独立工具,使用。 在这个范例的评定地点可以通过域开口被调整。

SENDIRA 包括被清除的红外光学包括阻滞剂、动力化的测向计、范例阶段、个人计算机、控制电子学和 SENTECH SpectraRay/3 软件数据收集,图书馆基于塑造,模拟和光谱配件的。

应用

SENDIRA 红外 ellipsometers 的主要应用包括:

  • 影片和层栈厚度和 R.i.
  • 材料光学性能在 MIR 光谱范围的
  • 载流子浓度和载流子迁移率
  • 对化学成分的分析
  • 非均质性的有机影片的调查

Last Update: 11. January 2012 04:36

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