SENTECH 紅外 Ellipsometer SENDIRA

SENTECH 紅外 Ellipsometer SENDIRA

在紅外光譜範圍,分光鏡 ellipsometry 適用於層和材料振動和電子屬性的收益信息。

SENDIRA 紅外 ellipsometer 報道從 1.7 µm 的紅外光譜範圍至 25 µm (6,000 cm-1 到 400 cm-1) 用 FTIR 精確度和高分辨率。 SENDIRA 在複雜層系統提供詳細化學製品,機械,電子和光學信息。 使用 SENDIRA,新的層材料的調查喜歡有機導體, OLEDs,并且在振動分光學的光譜範圍的聚合物提供未清結果。

SENDIRA 是在質量管理可以有效使用的一個非常好的研究工具。 至 200 mm 直徑的基體可以調查和瀏覽。

FTIR 的外部射線,當輻射源並且,提供的最大的靈活性,分光儀可能仍然使用作為一個獨立工具,使用。 在這個範例的評定地點可以通過域開口被調整。

SENDIRA 包括被清除的紅外光學包括阻滯劑、動力化的測向計、範例階段、個人計算機、控制電子學和 SENTECH SpectraRay/3 軟件數據收集,圖書館基於塑造,模擬和光譜配件的。

應用

SENDIRA 紅外 ellipsometers 的主要應用包括:

  • 影片和層棧厚度和 R.i.
  • 材料光學性能在 MIR 光譜範圍的
  • 載流子濃度和載流子遷移率
  • 對化學成分的分析
  • 非均質性的有機影片的調查

Last Update: 23. January 2012 02:52

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