與超過可能圖像總是獨立地是夢想的一探測的 SPM 系統。 此夢想成為與 MultiView 4000™的一個事實與其 AFM， NSOM 和 SPM multiprobe capabilites 和它是光學和電子光學兼容性。
Nanonics MultiView 4000™關鍵功能包括：
- 基本光學強制、的近域和所有已知的探測的四探測獨立掃描瀏覽的探測想像模式的
- 多個探測阻力評定的唯一探測與二，三和四點探測幾何
- 多個探針測量的唯一上升暖流探測
- 多個探測近域光學 (NSOM 或 SNOM) 評定
- 多個在各種各樣的結構的探測 nanochemical 文字與與鋼筆 Nanochemistry™的各種各樣的氣體，液體或者固態墨水
- 與縮進的結構的在線超高分辨率基本強制想像的多個探測 nanoindentation
- 多個與縱排收藏的探測光學或熱量解吸附作用的質量光譜分析