Durch die Platzierung einer Nanonics AFM NSOM Mikroskop mit seinem freien optischen Achse, auf eine Standard-Raman-Mikroskop, das erste Mal ist es möglich, die getrennten Welten von Raman-und AFM zu integrieren. Die Integration der Nanonics MultiView-System mit dem Renishaw RM Series Raman-Mikroskop markiert den Beginn einer neuen Ära in der hochauflösenden Raman-Spektroskopie.
Direkte Korrelation von Raman-und SPM Imaging
- Raman mit AFM-Steuerung entfernt topographische Artefakte
- Preisgekröntes Design
- Einzel SPM / Raman-Software-Paket
- NSOM Raman-Techniken
- Large Scan-Bereich 50 um in der XY-Ebene
Ein Durchbruch für die Raman-Spektroskopie
Obwohl Raman-Streuung derzeit eine Renaissance, es bisher geblieben getrennt und entfernt die Verbreitung von Erkenntnissen, die das gescannte Sonde Mikroskopie (SPM) geben kann. In der Regel untersucht eine Probe mit gescannten Sonde Mikroskopie erfordert das Entfernen der Probe aus der Mikro-Raman-Spektrometer. Dies bedeutet, dass die genaue Region, die von Raman verhört wurde nicht wieder für den gewählten SPM bildgebendes Verfahren gefunden werden. Direkte Korrelation von Raman-Streuung mit einem SPM-Technik ist ein Traum.
Heute, mit der Veröffentlichung des gemeinsamen Nanonics und Renishaw MicroRaman System ist dieser Traum Wirklichkeit geworden.
Transparente Korrelation von Raman-und SPM Imaging.
Die Nanonics MultiView 1000 ™-System kann direkt in die Renishaw RM Series Raman-Mikroskop integriert werden. Diese Mikroskope beschäftigen die aufrechten Mikroskop-Konfiguration und die Nanonics MultiView 1000 ™ ist leicht auf die Probe Stufe eines solchen Mikroskops platziert.
Alle anderen Systeme kombinieren AFM und Raman durchführen separat entweder eine AFM-Scan oder ein Raman-Scan. Kein anderes System als das Nanonics -Renishaw Kombination ermöglicht die gleichzeitige und Online-Daten aus beiden Modalitäten. Dieser enorme Vorteil löst kritische Probleme in Raman wie Intensität Vergleiche in Raman-Bilder und sorgt für neue Wege der verbesserten Auflösung.