Mediante la colocación de un microscopio AFM Nanonics NSOM con su eje óptico libre, en un microscopio Raman estándar, por primera vez es posible integrar los mundos separados de Raman y AFM. La integración de los sistemas Nanonics MultiView con el microscopio de la serie RM de Renishaw Raman marca el comienzo de una nueva era en alta resolución de la espectroscopia Raman.
La correlación directa de Raman e Imagen SPM
- Raman con el control de AFM elimina los artefactos topográficos
- Diseño premiado
- SPM sola / paquete de software Raman
- NSOM Raman técnicas
- Grandes 50um de exploración de distancia en el plano XY
Un avance para la espectroscopia Raman
A pesar de la dispersión Raman está experimentando un renacimiento, que hasta ahora se ha mantenido por separado y se retira de la proliferación de puntos de vista que el microscopías de sonda de escaneado (SPM) puede dar. En general, la investigación de una muestra con microscopías de sonda de escaneado requiere la eliminación de la muestra del espectrómetro micro-Raman. Esto significa que la región exacta que estaba siendo interrogado por Raman no se puede encontrar de nuevo por la técnica de imagen SPM elegido. Correlación directa de la dispersión Raman con una técnica de SPM ha sido un sueño.
Hoy en día, con el lanzamiento de la articulación Nanonics y Renishaw MicroRaman sistema, este sueño se ha convertido en una realidad.
La correlación transparente de Raman y de imagen SPM.
El Nanonics MultiView 1000 ™ sistema puede ser integrado directamente en el microscopio de la serie RM de Renishaw Raman. Estos microscopios utilizan la configuración de microscopio vertical, y el Nanonics MultiView ™ 1000 es fácil de colocar en el escenario de la muestra de un microscopio.
Todos los demás sistemas que combina AFM y Raman realizar por separado o bien una exploración de AFM o un análisis Raman. Ningún otro sistema que el Nanonics combinación-Renishaw proporciona datos simultáneamente y en línea de ambas modalidades. Esta enorme ventaja resuelve problemas críticos en Raman como las comparaciones de la intensidad en las imágenes Raman y ofrece nuevas vías de mejorar la resolución.