Asettamalla Nanonics AFM NSOM mikroskoopin kanssa sen ilmaiseksi optiselle akselille vakiomallin Raman mikroskooppi, ensimmäistä kertaa on mahdollista yhdistää eri maailmoja Raman ja AFM. Integrointi Nanonics MultiView järjestelmän kanssa Renishaw RM-sarjan Raman-mikroskooppi alku uuden aikakauden korkean resoluution Ramanspektroskopia.
Suorassa ja Raman ja SPM Imaging
- Raman AFM ohjaus poistaa topografisia artefakteja
- Palkittu muotoilu
- Single SPM / Raman ohjelmistopaketti
- NSOM Enhanced Raman tekniikoita
- Suuri Skannausalue 50um XY-tasossa
Läpimurto Ramanspektroskopia
Vaikka Raman sironta on parhaillaan renessanssin, sillä tähän asti on pysynyt erillinen ja poistaa leviämisen oivalluksia että skannatut anturi microscopies (SPM) voi antaa. Yleensä tutkitaan näyte skannattu koetin microscopies vaatii poistamalla näyte mikro-Raman-spektrometri. Tämä tarkoittaa, että tarkka alue, joka kuulusteli Raman ei löydy uudelleen valittu SPM kuvantamismenetelmä. Suora korrelaatio Raman sirontaa kanssa SPM tekniikka on unelma.
Tänään, vapauttaa yhteisen Nanonics ja Renishaw MicroRaman järjestelmä, tämä unelma on tullut todellisuutta.
Läpinäkyvä Korrelaatio Raman ja SPM Imaging.
Nanonics MultiView 1000 ™-järjestelmä voidaan integroida suoraan Renishaw RM-sarjan Raman-mikroskooppi. Nämä mikroskoopit työllistävät pystyssä mikroskooppi kokoonpano, ja Nanonics MultiView 1000 ™ on helposti asetetaan näyte vaiheessa tällaisen mikroskoopin.
Kaikki muut järjestelmät yhdistetään AFM ja Raman suorittaa erikseen joko AFM skannata tai Raman skannata. Mikään järjestelmä kuin Nanonics -Renishaw yhdistelmä mahdollistaa samanaikaiset ja online-tietoja sekä yksityiskohtaisia sääntöjä. Tämä valtava etu ratkaisee keskeisten ongelmien Raman kuten intensiteetti vertailut Raman kuvia ja tarjoaa uusia väyliä parempi resoluutio.