Collocando un microscopio di Nanonics il AFM NSOM con il suo asse ottico libero, su un microscopio standard di Raman, per la prima volta è possibile integrare i mondi separati di Raman e del AFM. L'integrazione del sistema di Nanonics MultiView con il Microscopio di Raman di Serie di RM di Renishaw traccia l'inizio di nuova era in spettroscopia ad alta definizione di Raman.
Correlazione Diretta di Raman e di Rappresentazione di SPM
- Raman con controllo del AFM rimuove i artefatti topografici
- Progettazione d'estrazione del Premio
- Singolo pacchetto di programmi di SPM/Raman
- NSOM Ha Migliorato le tecniche di Raman
- Vasto intervallo 50um di scansione nell'aereo DI X-Y
Un'Innovazione per la Spettroscopia di Raman
Sebbene lo scattering di Raman corrente stia subendo una rinascita, finora è rimanere separato e rimosso dalla proliferazione delle comprensioni che i microscopies scanditi della sonda (SPM) possono dare. Generalmente studiare un campione con i microscopies scanditi della sonda richiede la rimozione del campione dallo spettrometro di micro-Raman. Ciò significa che la regione esatta che stava interroganda da Raman non può essere trovata ancora per la tecnica di rappresentazione scelta di SPM. La correlazione Diretta dello scattering di Raman con una tecnica di SPM è stata un sogno.
Oggi, con la versione del sistema unito di Renishaw e di Nanonics MicroRaman, questo sogno si è trasformato in in una realtà.
Correlazione Trasparente di Raman e di Rappresentazione di SPM.
Il sistema di Nanonics MultiView 1000™ può direttamente essere integrato nel Microscopio di Raman di Serie di RM di Renishaw. Questi microscopi impiegano la configurazione dritta del microscopio e il Nanonics MultiView 1000™ è collocato prontamente sulla fase del campione di un tal microscopio.
Tutti I altri sistemi che combinano il AFM e Raman eseguono esclusivamente una scansione del AFM o una scansione di Raman. Nessun sistema all'infuori della combinazione di Nanonics-Renishaw fornisce i dati simultanei ed online da entrambe le modalità. Questo vantaggio enorme risolve i problemi critici in Raman quali i confronti dell'intensità nelle immagini di Raman e prevede i nuovi viali di risoluzione migliore.