Colocando um microscópio de Nanonics AFM NSOM com sua linha central óptica livre, em um microscópio padrão de Raman, pela primeira vez é possível integrar os mundos separados de Raman e de AFM. A integração do sistema de Nanonics MultiView com o Microscópio de Raman da Série do RM de Renishaw marca o começo de uma era nova na espectroscopia de alta resolução de Raman.
Correlação Directa de Raman e de Imagem Lactente de SPM
- Raman com controle do AFM remove os produtos manufacturados topográficos
- Projecto de vencimento da Concessão
- Único pacote de software de SPM/Raman
- NSOM Aumentou técnicas de Raman
- Grande escala 50um da varredura no plano XY
Uma Descoberta para a Espectroscopia de Raman
Embora a dispersão de Raman se submetesse actualmente a um renascimento, até aqui permaneceu separada e removida da proliferação das introspecções que os microscopies feitos a varredura da ponta de prova (SPM) podem dar. Geralmente, investigar uma amostra com microscopies feitos a varredura da ponta de prova exige a remoção da amostra do espectrómetro de micro-Raman. Isto significa que a região exacta que era interrogada por Raman não pode ser encontrada outra vez para a técnica de imagem lactente escolhida de SPM. A correlação Directa de Raman que dispersa com uma técnica de SPM foi um sonho.
Hoje, com a liberação do sistema comum de Nanonics e de Renishaw MicroRaman, este sonho transformou-se uma realidade.
Correlação Transparente de Raman e de Imagem Lactente de SPM.
O sistema de Nanonics MultiView 1000™ pode directamente ser integrado no Microscópio de Raman da Série do RM de Renishaw. Estes microscópios empregam a configuração ereta do microscópio, e o Nanonics MultiView 1000™ é colocado prontamente na fase da amostra de tal microscópio.
Todos sistemas restantes que combinam o AFM e o Raman executam separada uma varredura do AFM ou uma varredura de Raman. Nenhum sistema a não ser a combinação de Nanonics-Renishaw fornece dados simultâneos e em linha de ambas as modalidades. Esta vantagem enorme resolve problemas críticos em Raman tal como comparações da intensidade em imagens de Raman e prevê-os avenidas novas da definição melhorada.