Microscopio Ottico del Quasi-Campo di Scansione di WITEC alpha300 S

Microscopio Ottico del Quasi-Campo di Scansione di WITEC alpha300 S

Il alpha300 S è un Microscopio Ottico del Quasi-Campo facile da usare di Scansione (SNOM) quel associazioni in un modo unico i vantaggi di SNOM, di Microscopia Confocale e di Microscopia Atomica della Forza in un singolo strumento. Passando fra i modi differenti può essere fatta facilmente mediante la rotazione della torretta obiettiva. Il alpha300 S utilizza i sensori SNOM-a mensola micro-da costruzione unici per microscopia ottica con risoluzione spaziale sotto il limite di diffrazione.

La progettazione del Microscopio Ottico del Quasi-Campo di Scansione di alpha300 S caratterizza un Microscopio Confocale (CM), un Microscopio Ottico del Quasi-Campo di Scansione (SNOM) e un Microscopio Atomico della Forza (AFM) in un singolo strumento. Semplicemente girando la torretta obiettiva, l'utente può scegliere fra da Microscopia Confocale, da SNOM o dal AFM.

Per microscopia ottica di scansione del quasi-campo, il alpha300 S utilizza i SNOM-sensori A Mensola micro-da costruzione unici e brevettati che superano significativamente le sonde a fibra ottica standard nella risoluzione, nella trasmissione, nella facilità dell'operazione e nell'affidabilità.

L'a mensola, impiegando il principio affermato di deformazione di raggio per controllo di distanza, funzionalità una piramide vuota con un'apertura diaframma alla sua punta. Ciò permette la topografia e le immagini ottiche da acquistarsi simultaneamente.

Last Update: 14. January 2014 05:47

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