Den alpha300 S er et brukervennlig Scanning Near-feltet optisk mikroskop (SNOM) som kombinerer på en unik måte fordeler SNOM, konfokalmikroskopi og Atomic Force Mikroskopi i et enkelt instrument. Bytte mellom de forskjellige modusene kan enkelt gjøres ved å rotere målet turret. Den alpha300 S bruker unike mikro-fabrikkerte SNOM-cantilever sensorer for optisk mikroskopi med romlig oppløsning under diffraksjon grensen.
Utformingen av alpha300 S Scanning Near-feltet optisk mikroskop har en confocal Microscope (CM), en Scanning nærheten-Field optisk mikroskop (SNOM) og en Atomic Force Microscope (AFM) i ett enkelt instrument. Ved å rotere målet turret, kan brukeren velge blant konfokalmikroskopi, SNOM eller AFM.
For scanning nær-feltet optisk mikroskopi, den alpha300 S bruker unike og patenterte mikro-fabrikkerte Cantilever SNOM-sensorer som vesentlig utkonkurrere standard fiberoptiske prober i oppløsning, overføring, enkel betjening og pålitelighet.
Cantilever, sysselsetter de godt etablerte strålen avbøyning prinsipp for avstand kontroll, har en hul pyramide med en blenderåpning på topp. Dette gjør at topografi og optiske bilder skal anskaffes samtidig.